Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX
| Номер в ГРСИ РФ: | 52315-12 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | Фирма "Jeol", Япония |
Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX (далее по тексту ╞ микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров фазовых и структурных составляющих металлов и сплавов, композиционных и полимерных материалов, порошков, микрокристаллов, локального микрорентгеноспектрального анализа, определения параметров кристаллических решеток.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Номер по Госреестру | 52315-12 | ||||||
| Наименование | Микроскоп электронный просвечивающий | ||||||
| Модель | JEM 200CX | ||||||
| Характер производства | Единичное | ||||||
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | ea8bdd91-913e-ea09-eb28-593735737b5c | ||||||
| Испытания |
|
||||||
| Год регистрации | 2012 | ||||||
| Общие данные | |
|---|---|
| Год регистрации | 2012 |
| Страна-производитель | Япония |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | .. |
| Номер сертификата | 49396 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | E |
| Дата протокола | Приказ 1197 п. 61 от 27.12.2012 |
Производитель / Заявитель
Фирма "JEOL Ltd.", ЯПОНИЯ
Япония
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП 66.Д4-11 |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки |
1 год
|
| Зарегистрировано поверок | |
| Найдено поверителей | |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 9 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0 %) |
| Актуальность информации | 21.12.2025 |
Поверители
Скачать
|
52315-12: Описание типа
2012-52315-12.pdf
|
Скачать | 113.9 КБ | |
| Свидетельство об утверждении типа СИ | Открыть | ... |
Описание типа
Назначение
Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX (далее по тексту - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров фазовых и структурных составляющих металлов и сплавов, композиционных и полимерных материалов, порошков, микрокристаллов, локального микрорентгеноспектрального анализа, определения параметров кристаллических решеток.
Описание
Принцип действия микроскопа основан на использовании электронного пучка с длиной волны, значительно более короткой, чем световая.
В состав микроскопа входят:
- вакуумная система;
- источник электронов;
- источник высокого напряжения для ускорения электронов;
- набор электромагнитных линз и электростатических пластин для управления и контроля электронного пучка;
- экран, на который проецируется увеличенное электронное изображение;
- энергодисперсионный детектор с пакетом программного обеспечения INCA Energy TEM-250 для проведения элементного анализа с высокой локальностью измерений.
Рисунок 1 - Общий вид микроскопа электронного просвечивающего JEM 200CX
Рисунок 2 - маркировка и пломбирование микроскопа электронного просвечивающего JEM 200CX
Программное обеспечение
Все действия с микроскопом проводятся с помощью ПК, на котором установлено автономное программное обеспечение (ПО).
Интерфейсная часть программного обеспечения микроскопа запускается на ПК и служит для отображения, обработки и сохранения результатов измерений; она состоит из управляющих программ:
- Digital Micrograph предназначено для обработки изображений, получаемых от микроскопа;
- INCA Energy TEM-250 предназначено для накопления спектра с выделенного участка образца, отмеченного на изображении, в режиме сканирования на просвет, с возможностью получения карты распределения по химическим элементам.
Результаты измерений заносятся в протокол, генерируемый программой, и хранятся на жестком диске компьютера.
Обмен данными между микроскопом и персональным компьютером осуществляется по порту USB.
Искажение данных при передаче через интерфейс связи исключается параметрами протокола.
Метрологически значимая часть ПО микроскопа размещается в энергонезависимой памяти микроконтроллера, расположенной в аппаратной части микроскопа, запись которой осуществляется в процессе производства. Доступ к микроконтроллеру исключён конструкцией аппаратной части микроскопа.
Идентификационные данные ПО представлены в таблице 1.
Таблица 1
|
Наименование ПО |
Идентификационное наименование ПО |
Номер версии (идентификационный номер) ПО |
Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода) |
Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО |
|
Digital Micrograph |
Gatan Digital Micrograph ES500W |
3.11.1 |
629D02634F701E39E38 5D957B81F714A |
MD5 |
|
INCA Energy TEM-250 |
The Microanalysis Suite Issue 17 a |
4.08.0017 |
419736A2691245673F48 5D525FCA30DA |
MD5 |
Защита программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «С» по МИ 3286-2010.
Технические характеристики
Метрологические и технические характеристики Микроскопа электронного просвечивающего JEM 200CX приведены в таблице 2.
Таблица 2
|
Наименование характеристики |
Значение характеристики |
|
Разрешающая способность при ускоряющем напряжении 160 кВ, нм |
0,5 |
|
Разрешение локального микрорентгеноспектрального анализа, нм |
20 |
|
Диапазон измерений геометрических расстояний, мкм |
0,05 - 10 |
|
Пределы допускаемой основной относительной погрешности измерения геометрических расстояний при ускоряющем напряжении 160 кВ, % |
±0,1 |
|
Диапазон регулировки ускоряющего напряжения, кВ |
80 - 200 |
|
Увеличение (кратность), крат |
600 - 330000 |
|
Номинальное напряжение трехфазной сети питания, В |
380 ± 22 |
|
Потребляемая мощность, кВт, не более |
6 |
|
Габаритные размеры, мм |
1600 х 1300 х 3000 |
|
Масса, кг, не более |
1200 |
Знак утверждения типа
наносится на корпус методом наклейки и на титульный лист руководства по эксплуатации методом печати.
Комплектность
Перечень основного и дополнительного оборудования приведен в таблице 3.
Таблица 3
|
Наименование |
Количество, шт. |
|
Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX |
1 |
|
Блок питания |
1 |
|
Высоковольтный блок |
1 |
|
Форвакуумный насос |
1 |
|
Воздушный компрессор |
1 |
|
Руководство по эксплуатации |
1 |
|
Методика поверки № МП 66.Д4-11 |
1 |
Поверка
осуществляется по документу: «Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX. Методика поверки № МП 66.Д4-11», утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ» 15 марта 2011 г.
Основные средства поверки:
1 Мера периода рельефная S106
Основные метрологические характеристики:
Номинальное значение шага периодической структуры меры вдоль двух ортогональных направлений - 0,463 мкм
Предел допускаемой абсолютной погрешности шага периодической структуры -± 0,020 мкм.
2 Мера рельефная графитовая S140
Основные метрологические характеристики:
Номинальное значение периода кристаллической решетки меры - 0,314 нм.
Предел допускаемой абсолютной погрешности периода кристаллической решетки -± 0,05 нм
Сведения о методах измерений
«Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX. Руководство по эксплуатации», раздел 7 «Работа с образцами».
Нормативные документы
Техническая документация JEOL Ltd, Япония.
Рекомендации к применению
Выполнение работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям
Другие Микроскопы
