Микроскоп инвертированный Axiovert 200MAT

Микроскоп инвертированный Axiovert 200MAT (далее - Микроскоп) предназначен для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.

Скачать

57150-14: Описание типа СИ Скачать 106.1 КБ

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 57150-14
Наименование Микроскоп инвертированный
Модель Axiovert 200MAT
Год регистрации 2014
Методика поверки / информация о поверке МП4435-001-05757676
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 2 года
Страна-производитель  Германия 
Информация о сертификате
Срок действия сертификата ..
Тип сертификата (C - серия/E - партия) E
Дата протокола Приказ 476 п. 19 от 16.04.2014
Производитель / Заявитель

Фирма "Carl Zeiss", Германия

 Германия 


Назначение

Микроскоп инвертированный Axiovert 200MAT (далее - Микроскоп) предназначен для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.

Описание

Принцип работы Микроскопа основан на бесконтактном методе измерений размера изображения контролируемого объекта.

Метод обзора - светлое или темное поле, люминесценция, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст.

Микроскоп оснащен двумя окулярами типа W-PL 10х/23 и пятью объективами с увеличением 5х, 10х, 20х, 50х, 100х.

Микроскоп оснащен двухстрочным ЖК-дисплеем, расположенным на магнитной опоре. В верхней строке дисплея отображается позиция и увеличение объектива, в нижней строке - яркость лампы через штриховую полосу и соответствующее значение напряжения (один штрих соответствует 0,4 V). При выключенной галогенной лампе в нижней строке ЖК-дисплея появляется информация «Hal off» вместо штриховой полосы яркости лампы.

т^ш

U4

и

5

f л

1

РЧ

гм

С ]

р

■гч

£

го

V J

Г 1/1

II

Рисунок 2 - Объект-микрометр

Технические характеристики

Диапазон измерений, мм

0,001 - 100

Диапазон перемещений предметного столика микроскопа, не менее, мм

- по координате X

0 - 100

- по координате Y

0 - 40

Размеры предметного столика, мм

305х170

Пределы абсолютной погрешности измерений шкалы микроскопа, мкм в диапазоне измерений:

- 100х

± 0,6

-

5

О

X

± 1,0

-

2

О

X

± 2,5

- 10х

± 5,0

- 5х

± 20

Пределы отклонения общей длины шкалы микроскопа от номинальной, мкм, при увеличении:

- 100х

± 5

-

5

О

X

± 10

-

2

О

X

± 20

- 10х

± 50

- 5х

± 100

Габаритные размеры микроскопа, мм, не более

295x805x707

Диапазон измерений шкалы объект-микрометра, мм

5

-

О

0,

Цена деления шкалы объект-микрометра, мкм

10

Пределы абсолютной погрешности шкалы объект-микрометра, мкм

±0,2

Пределы отклонения общей длины шкалы объект-микрометра, мкм

±2

Масса, кг, не более

26

Микроскоп эксплуатируется в следующих климатических условиях по гр. В1 со следующими уточнениями:

ГОСТ 52931-2008

- температура окружающего воздуха, °С

(20 -)

- верхнее значение относительной влажности при 25 °С, без конденсации влаги, %

80

-атмосферное давление, кПа

100-20

Электропитание Микроскопа осуществляется от сети переменного тока:

- напряжением, В -частотой, Гц

220-23 (50±1)

Знак утверждения типа

наносится на специальную табличку на боковой панели Микроскопа методом штемпелевания и на титульный лист руководства по эксплуатации - типографским способом.

Обозначение

Наименование

Коли

чество

Заводской

номер

Примечание

Axiovert 200MAT

Микроскоп

1

3821000312

Головка

револьверная

объективов

1

На 5 объективов 5х, 10х, 20х, 50х, 100х

Источник света

2

галогенный HAL100; ртутный НВО100

Окуляр

2

W-PL

Carl Zeiss 5+100/100 mm

Объект-микрометр

1

474027

0 - 5,0 мм

Инструкция по эксплуатации

1

ПТИ 899-ЦКЛК-145-2013

Работа на инвертированном микроскопе отраженного света Axiovert 200MAT. Производственнотехническая инструкция

МП4435-001-

05757676

Методика поверки

1

Поверка

осуществляется по документу МП4435-001-05757676 “Микроскоп инвертированный Axiovert 200MAT. Методика поверки”, утвержденному ФГУП «СНИИМ» в октябре 2013 г.

Эталоны: Государственный вторичный эталон единицы длины диапазоне значений 0 -1000 мм ВЭТ 2-14-59, объект-микрометр отраженного света в диапазоне значений 0 - 1 мм 2 разряда.

Сведения о методах измерений

1    ПТИ 899-ЦКЛК-145-2013 “Работа на инвертированном микроскопе отраженного света Axiovert 200MAT. Производственно-техническая инструкция”;

2    Инструкция по эксплуатации.

Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к Микроскопу инвертированному Axiovert 200MAT

1    ГОСТ 5639-82 Стали и сплавы. Методы выявления и определения величины зерна

2    ГОСТ 8.763-2011 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 110-9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм

Рекомендации к применению

при выполнении работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов, установленным законодательством Российской Федерации, обязательным требованиям.

Другие Микроскопы

57061-14
AXIO Observer.A1m Микроскопы инвертированные
Фирма "Carl Zeiss AG", Германия
Микроскопы инвертированные AXIO Observer.Alm (далее - микроскопы) предназначены для измерения линейных размеров микроструктуры твердых тел.
56754-14
KIM-2010N Микроскопы видеоизмерительные
Фирма "ARCS Precision Technology Co., Ltd.", Тайвань
Микроскопы видеоизмерительные KIM-2010N (далее - микроскопы) предназначены для автоматизированных двухмерных измерений линейных размеров.
57711-14
MM1 Garant Микроскопы видеоизмерительные
Компания "Hoffmann GmbH Qualitatswerkzeuge", Германия
Микроскопы видеоизмерительные MM1 Garant (далее по тексту - микроскопы) предназначены для измерения линейных размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.
57712-14
MM2 Garant Микроскопы видеоизмерительные
Компания "Hoffmann GmbH Qualitatswerkzeuge", Германия
Микроскопы видеоизмерительные MM2 Garant (далее по тексту - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.
Микроскопы электронные растровые настольные Phenom (модификаций Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX) (далее - микроскопы) предназначены для количественного морфологического анализа, измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных...