Микроскоп малый инструментальный ММИ-2
| Номер в ГРСИ РФ: | 599-72 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | АО "Новосибирский приборостроительный завод" (НПЗ), г. Новосибирск |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроскоп малый инструментальный ММИ-2 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 599-72 |
| Наименование | Микроскоп малый инструментальный |
| Модель | ММИ-2 |
| Страна-производитель | РОССИЯ |
Производитель / Заявитель
Новосибирский приборостроительный завод имени В. И. Ленина, г. Новосибирск
РОССИЯ
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Зарегистрировано поверок | 135 |
| Найдено поверителей | 33 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 126 (93%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 9 (7%) |
| Актуальность информации | 03.11.2024 |
Поверители
Скачать
| 599-72: Описание типа СИ | Скачать | 36.3 КБ | |
| 599-72: Методика поверки | Скачать | 49 КБ |
Описание типа
Копия описания типа в архиве не сохранилась
Другие Микроскопы
89837-23
ИМ Микроскопы измерительные
Общество с ограниченной ответственностью "Профноватор" (ООО "Профноватор"), г. Челябинск
Микроскопы измерительные ИМ (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров деталей.
Микроскопы видеоизмерительные портальные TZTEK VMG (далее - приборы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.
Микроскопы видеоизмерительные консольные TZTEK (далее - приборы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.
Микроскопы сканирующие электронные CX-200 PLUS (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элементного...
Микроскопы сканирующие электронные KYKY (далее микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров, определения формы, ориентации и других параметров, нано- и микроструктур поверхностей различных объектов.