599-81: УМИ-1 Микроскопы унифицированные инструментальные - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы унифицированные инструментальные УМИ-1

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 599-81
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: АО "Новосибирский приборостроительный завод" (НПЗ), г. Новосибирск
Скачать
599-81: Описание типа СИ Скачать 36.3 КБ
599-81: Методика поверки Скачать 49 КБ
Нет данных о поставщике
Микроскопы унифицированные инструментальные УМИ-1 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 599-81
Наименование Микроскопы унифицированные инструментальные
Модель УМИ-1
Страна-производитель РОССИЯ
Производитель / Заявитель

Новосибирский приборостроительный завод имени В. И. Ленина, г. Новосибирск

РОССИЯ

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

599-81: Описание типа СИ Скачать 36.3 КБ
599-81: Методика поверки Скачать 49 КБ

Описание типа



Копия описания типа в архиве не сохранилась

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
599-72
ММИ-2 Микроскоп малый инструментальный
Новосибирский приборостроительный завод имени В. И. Ленина, г. Новосибирск
89837-23
ИМ Микроскопы измерительные
Общество с ограниченной ответственностью "Профноватор" (ООО "Профноватор"), г. Челябинск
Микроскопы измерительные ИМ (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров деталей.
Микроскопы видеоизмерительные портальные TZTEK VMG (далее - приборы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.
Микроскопы видеоизмерительные консольные TZTEK (далее - приборы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.
90732-23
CX-200 PLUS Микроскопы сканирующие электронные
Фирма "COXEM Co., Ltd.", Республика Корея
Микроскопы сканирующие электронные CX-200 PLUS (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элементного...