61516-15: MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN

Номер в ГРСИ РФ: 61516-15
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH", Германия
Скачать
61516-15: Описание типа СИ Скачать 109 КБ
Нет данных о поставщике
Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 61516-15
Наименование Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные
Модель MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN
Срок свидетельства (Или заводской номер) 01.09.2020
Производитель / Заявитель

Фирма "Carl Zeiss Microscopy Ltd.", Великобритания

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 7
Найдено поверителей 2
Успешных поверок (СИ пригодно) 7 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

61516-15: Описание типа СИ Скачать 109 КБ

Описание типа

Назначение

Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.

Описание

Принцип работы микроскопов автоэмиссионных сканирующих электронных MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN (далее по тексту - микроскопы) основан на взаимодействии электронного пучка с поверхностью объекта. Электронный луч непрерывно сканирует тот участок поверхности объекта, изображение которого формируется микроскопом. При этом каждая точка поверхности объекта, в границах поля зрения микроскопов, отображается соответствующей точкой на формируемом изображении. При взаимодействии электронного луча с поверхностью объекта единовременно возникает сразу несколько ответных сигналов. В зависимости от того, какой тип детектора сигнала в данный момент включен, микроскопы формируют то или иное конкретное изображение.

Микроскопы измеряют длину проекции геометрических расстояний на горизонтальную плоскость, т.е. расстояние между соответствующими точками на плоской и горизонтально ориентированной поверхности объекта.

Микроскопы укомплектованы двумя детекторами: внутрилинзовым и детектором вторичных электронов (SE), позволяющими получать электронно-микроскопические изображения, которые отличаются друг от друга геометрическим расположением внутри рабочего объема микроскопа. Микроскоп Merlin Compact VP дополнительно укомплектован детектором отраженных электронов (EsB).

Микроскопы оснащены двумя вспомогательными телекамерами инфракрасного диапазона, которые позволяют в реальном времени и с увеличением около 1,5 раз контролировать перемещения и повороты исследуемого объекта и гониометрического держателя препаратов.

В микроскопе MERLIN Compact возможно использование режима высокого разрешения при большом токе зонда, с использованием внутрилинзового SE. На микроскопе MERLIN Compact VP возможно исследование диэлектрических материалов при низком значении вакуума (VP режим). Микроскоп MERLIN позволяет использовать режим высокого разрешения при низком токе зонда, с помощью детектора обратно-рассеянных электронов (EsB).

Рисунок 1 - Общий вид микроскопов автоэмиссионных сканирующих электронных MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN

Рисунок 2 - Места нанесения маркировки на микроскоп.

Программное обеспечение

Микроскопы имеют автономное программное обеспечение, которое используется для обработки результатов измерений.

Идентификационные данные метрологически значимой части программного обеспечения приведены в таблице 1.

Таблица 1

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

SmartSEM

Номер версии (идентификационный номер) ПО

5.06

Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода)

7B1EE57BEE2FF061

4EF5F8822FB71632

Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО

MD5

Защита ПО от преднамеренных и непреднамеренных воздействий соответствует

среднему уровню. Метрологически значимая часть ПО СИ и измеренные данные достаточно защищены с помощью ограничения прав доступа паролем.

Технические характеристики

Таблица 2

Наименование характеристики

Значение характеристики

Эффективный диаметр электронного зонда микроскопа не более, нм

150

Диапазон показаний линейных размеров, нм

от 0,8 до 2-106

Диапазон измерений линейных размеров, нм

от 500 до 2-106

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения линейных размеров, нм

±(1+0,05L*)

Диапазон регулирования увеличения, крат

12-2000000

Номинальное напряжение сети питания, В

220 ± 5 %

Масса, кг, не более

870

Габаритные размеры, мм, не более

980x774x1700

Условия эксплуатации:

Температура окружающего воздуха, °С

Относительная влажность воздуха при 25°С, %

Избыточное давление воздуха в помещении относительно атмосферного давления, Па

21 ± 4

65

30 ± 0,3

* - L - линейный размер объекта, нм

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится на титульный лист руководства по эксплуатации методом наклейки и на заднюю панель корпуса микроскопа методом наклеивания.

Комплектность

Таблица 3

Наименование

Количество, шт

Микроскоп электронный сканирующий MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN*

1

Компьютер с сетевым источником питания

1

Дисплей

1

Клавиатура

1

Манипулятор «мышь»

1

Руководство по эксплуатации

1

Методика поверки МП 34.Д4-14

1

*- модификация по требованию заказчика

Поверка

осуществляется в соответствии с документом МП 34.Д4-14 «Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN. Методика поверки», утвержденным ФГУП «ВНИИОФИ» 9 апреля 2014 г.

Основные средства поверки:

Эталонная мера ширины и периода МШПС-2.0К.

Основные метрологические характеристики:

Наименование метрологических характеристик

Номинальное значение, нм

Погрешность, нм

Среднее значение шага (t) шаговой структуры, нм.

2001

±2

Значение ширины (bu) верхнего основания выступа (8 выступ) в шаговой структуре, нм.

597

±2

Сведения о методах измерений

Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN. Руководство по эксплуатации раздел «Эксплуатация».

Нормативные документы

ГОСТ Р 8.763-2011 «Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1-10’9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм»

Другие Микроскопы

Микроскопы электронные растровые JSM IT300x (модификации JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA) (далее - микроскопы) предназначены для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотел...
Микроскопы электронные растровые JSM-6x10x (модификации JSM-6010LV, JSM-6010LA, JSM-6010Plus/LV, JSM-6010Plus/LA, JSM-6510Plus, JSM-6510Plus/A, JSM-6510Plus/LV, JSM-6510Plus/LA) (далее - микроскопы) предназначены для количественного морфологического...
60084-15
Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP Микроскоп электронный просвечивающий
Фирма "FEI Europe B.V., P.O.", Нидерланды
Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров объектов.
Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VP предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
32060-15
176 Микроскопы измерительные
Фирма "Mitutoyo Corporation", Япония
Микроскопы измерительные серии 176 (далее - микроскопы) предназначены для оптического измерения линейных размеров деталей.