67119-17: MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNC Микроскопы измерительные - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы измерительные MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNC

Номер в ГРСИ РФ: 67119-17
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Mahr GmbH", Германия
Скачать
67119-17: Описание типа СИ Скачать 276 КБ
67119-17: Методика поверки МП 203-24-2016 Скачать 839.5 КБ
Нет данных о поставщике
Микроскопы измерительные MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNC поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскопы измерительные MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNC (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 67119-17
Наименование Микроскопы измерительные
Модель MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNC
Срок свидетельства (Или заводской номер) 24.03.2022
Производитель / Заявитель

Фирма "Mahr GmbH", Германия

Поверка

Зарегистрировано поверок 125
Найдено поверителей 23
Успешных поверок (СИ пригодно) 121 (97%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 4 (3%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

67119-17: Описание типа СИ Скачать 276 КБ
67119-17: Методика поверки МП 203-24-2016 Скачать 839.5 КБ

Описание типа

Назначение

Микроскопы измерительные MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNC (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей.

Описание

Принцип измерений на микроскопе основан на оптическом визирном методе, при котором для нахождения координат точки или геометрического элемента на детали необходимо совместить неподвижное перекрестие в окуляре либо на экране прибора с изображением искомого элемента детали, видимое через окуляр или проецируемое на экран прибора при помощи цветной видеокамеры.

На основании микроскопа закреплен узел подвижного измерительного стола. И стойка с цветной видеокамерой, органы управления настройкой освещения, увеличением, регулировкой яркости. Благодаря наличию системы призм измеряемая деталь наблюдается в окуляр либо на экране дисплея в виде прямого изображения, и все перемещения измеряемого предмета соответствуют действительным направлениям перемещений.

Перемещения детали осуществляются с помощью подвижного измерительного стола, имеющего возможность перемещаться в перпендикулярных друг другу направлениях, вдоль осей координат X и Y микроскопа.

Перемещение измерительного стола осуществляется вручную с помощью микрометрических головок (микроскопы серий MM 200, MM 220, MM 420) и автоматизированно (микроскопы серии MM 420 CNC).

Микроскопы серии MM 420 CNC (серии MM 420 опционально) оснащены дополнительной измерительной шкалой, что позволяет проводить измерения по оси Z.

Также, микроскопы серии MM 420 опционально могут быть оснащены удлиненной колонной по оси Z.

В зависимости от диапазонов измерений микроскопы серии MM 220 выпускают трех типоразмеров, серии MM 420 - четырех, серии MM 420 CNC - трех, а серии MM 200 - одного.

В процессе работы результаты измерений выводятся на экран монитора (микроскопы серий MM 420 и MM 420 CNC), дисплей планшетного компьютера или устройство управления и индикации (микроскопы серии MM 220), а также на дисплеи цифровых микрометрических головок (микроскопы серии MM 200).

Внешний вид микроскопов приведен на рисунках 1-4.

В комплект поставки микроскопов серий MM 420 и ММ 420 CNC входит персональный компьютер с сенсорным монитором, микроскопов сери MM 220 - планшетный компьютер или устройства управления и индикации: QC 100 или QC 200 (рис. 5).

Рисунок 1 - Внешний вид микроскопов серии MM 420

Рисунок 2 - Внешний вид микроскопов серии MM 420 CNC

Рисунок 3 - Внешний вид микроскопов серии MM 200

Рисунок 4 - Внешний вид микроскопов серии MM 220

(а)

(б)

Рисунок 4 - Устройства вывода информации у микроскопов серии MM 220:

а) планшетный компьютер; б) устройство управления и индикации QC 100;

в) устройство управления и индикации QC 200

(в)

Пломбирование микроскопов измерительных MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNC от несанкционированного доступа не предусмотрено.

Программное обеспечение

Микроскопы серии MM 200 оснащены программным обеспечением (ПО) MarCom, серий MM 420 и MM 420 CNC - программным обеспечением M3. Микроскопы серии MM 220 в базовой комплектации могут быть оснащены программным обеспечением M1 или R1 с дополнительными функциональными возможностями, при наличии устройства управления и индикации QC 100 - программным обеспечением QC 100, и при наличии устройства управления и индикации QC 200 - программным обеспечением QC 200.

Вычислительные алгоритмы ПО расположены в заранее скомпилированных бинарных файлах и не могут быть модифицированы, они блокируют редактирование для пользователей и не позволяют удалять, создавать новые элементы или редактировать отчеты.

Таблица 1 - Идентификационные данные ПО микроскопов

Серия микроскопа

Идентификационные данные (признаки)

Идентификационное наименование ПО

Номер версии (идентификационный номер) ПО

Цифровой идентификатор ПО

MM 200

MarCom

v 5.X

-

MM 220

M1

R1

QC 100

QC 200

v 1.X

v 1.X

v 2.X

v 2.X

-

MM 420, MM 420 CNC

M3

v 2.X

-

Программное обеспечение является неизменным. Средства для программирования или изменения метрологически значимых функций отсутствуют.

Главной защитой ПО является наличие USB-ключа, что позволяет предотвратить неавторизованное использование ПО.

Защита программного обеспечения микроскопов соответствует уровню «высокий» в

соответствии с Р 50.2.077-2014.

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические и технические характеристики микроскопов серий MM 200

и MM 420

Наименование характеристики

Серия

MM 200

MM 420

Диапазон измерений, мм - по оси X - по оси Y - по оси Z

- удлиненная колонна по оси Z

от 0 до 50 от 0 до 50

-

-

от 0 до 100

от 0 до 100

от 0 до 115

от 0 до 315

от 0 до 200

от 0 до 100

от 0 до 115

от 0 до 315

от 0 до 250

от 0 до 170

от 0 до 115

от 0 до 315

от 0 до 400

от 0 до 250

-

от 0 до 290

Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений*, мкм - по осям X, Y - в плоскости XY - по оси Z

±(8 + L/100)

±(8 + L/100)

-

±(1,9 + L/100)

±(2,9 + L/100) ±(10 + L/25)

±(3,9 + L/100)

±(4,9 + L/100) ±(10 + L/25)

Увеличение, крат

от 8 до 40

от 35 до 225

Рабочее расстояние, мм

70

85

Дискретность отсчета, мкм

0,001

0,001

Максимальная нагрузка на стол, кг, не более

15

20

Г абаритные размеры, мм, не более - длина - ширина - высота

410

470

535

480

430

900

650

550

900

700

600

900

1000

900

1000

У словия эксплуатации: -     температура

окружающей среды, °С -   относительная

влажность , %

От +15 до +25

От 40 до 80

От +15 до +25

От 40 до 80

*L - измеряемый размер в мм;

Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений указаны: - для серий MM 200 при увеличении 40 крат;

- для серий MM 420 при увеличении 225 крат.

Таблица 3 - Метрологические и технические характеристики микроскопов серий MM 220 и MM 420 CNC

Наименование характеристики

Серия

MM 220

MM 420 CNC

Диапазон измерений, мм - по оси X - по оси Y - по оси Z

- удлиненная колонна по оси Z

от 0 до 100 от 0 до 100

-

-

от 0 до 200 от 0 до 100

-

-

от 0 до 250 от 0 до 170

-

-

от 0 до 200

от 0 до 100

от 0 до 200

-

от 0 до 250

от 0 до 170

от 0 до 200

-

от 0 до 400

от 0 до 250

от 0 до 200

-

Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений*, мкм - по осям X, Y - в плоскости XY - по оси Z

±(1,9 + L/100)

±(2,9 + L/100)

-

±(1,9 + L/100) ±(2,9 + L/100) ±(10 + L/25)

±(3,9 + L/100)

±(4,9 + L/100) ±(10 + L/25)

Увеличение, крат

от 8 до 40

от 35 до 225

Рабочее расстояние, мм

75

85

Дискретность отсчета, мкм

0,001

0,001

Максимальная нагрузка на стол, кг, не более,

20

20

Г абаритные размеры, мм, не более - длина - ширина - высота

480

430

750

650

550

750

700

600

750

450

400

880

500

510

880

1000

900

1000

Условия эксплуатации: -   температура

окружающей среды, °С - относительная влажность , %

От +15 до +25

От 40 до 80

От +15 до +25

От 40 до 80

*L - измеряемый размер в мм;

Пределы допускаемой абсолютной погрешности линейных измерений указаны: - для серий MM 220 при увеличении 40 крат;

- для серий MM 420 CNC при увеличении 225 крат

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.

Комплектность

Таблица 4 - Комплектность средства измерений

Наименование

Кол-во

Примечания

Микроскоп измерительный MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNC

1 шт.

Компьютер с ПО

1 шт.

для серий MM 420, MM 420 CNC

Планшетный компьютер

1 шт.

поставляется в базовой комплектации для серии ММ 220

Устройство управления и индикации

1 шт.

поставляется опционально для серии ММ 220

USB-ключ

1 шт.

Руководство по эксплуатации

1 экз.

Методика поверки

1 экз.

Поверка

осуществляется по документу МП № 203-24-2016 «Микроскопы измерительные MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNC. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИМС» 22 июля 2016 г.

Основные средства поверки:

- мера длины штриховая (стеклянная) 3-го разряда по ГОСТ Р 8.763-2011;

- меры длины концевые плоскопараллельные 4-го разряда по ГОСТ Р 8.763-2011.

Допускается применение аналогичных средств поверки не приведенных в перечне, но обеспечивающих определение метрологических характеристик средств измерений с требуемой точностью.

Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.

Сведения о методах измерений

приведены в эксплуатационных документах.

Нормативные документы

ГОСТ Р 8.763-2011 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне 1-10-9 ...50 м и длин волн в диапазоне 0,2 ... 50 мкм

Техническая документация Mahr GmbH, Германия

Другие Микроскопы

67329-17
ВМ Микроскопы видеоизмерительные
ООО "Профноватор", г.Челябинск
Микроскопы видеоизмерительные серии ВМ (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров различных деталей.
Микроскопы видеоизмерительные MarVision серии QM 300 (далее микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей.
Микроскоп электронный сканирующий Inspect S50, (далее - микроскоп Inspect S50) предназначен для измерений линейных размеров, формы, ориентации и других параметров наноструктур и микрорельефа поверхностей различных объектов.
67838-17
Keysight 5600LS Микроскоп атомно-силовой
Фирма "Keysight Technologies Inc.", США
Микроскоп атомно-силовой Keysight 5600LS (далее по тексту - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и структур и проведения локальной структурной моди...