74241-19: МВ и МВZ Микроскопы видеоизмерительные - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы видеоизмерительные МВ и МВZ

Номер в ГРСИ РФ: 74241-19
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: ООО "Профноватор", г.Челябинск
Скачать
74241-19: Описание типа СИ Скачать 154.6 КБ
74241-19: Методика поверки МП 92-233-2018 Скачать 5 MБ
Нет данных о поставщике
Микроскопы видеоизмерительные МВ и МВZ поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскопы видеоизмерительные серий МВ и МВ2 (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных и контактных измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 74241-19
Наименование Микроскопы видеоизмерительные
Модель МВ и МВZ
Страна-производитель РОССИЯ
Срок свидетельства (Или заводской номер) 01.03.2024
Производитель / Заявитель

ООО "Профноватор", г.Челябинск

РОССИЯ

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 320
Найдено поверителей 29
Успешных поверок (СИ пригодно) 314 (98%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 6 (2%)
Актуальность информации 24.03.2024

Поверители

Скачать

74241-19: Описание типа СИ Скачать 154.6 КБ
74241-19: Методика поверки МП 92-233-2018 Скачать 5 MБ

Описание типа

Назначение

Микроскопы видеоизмерительные серий МВ и MBZ (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных и контактных измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.

Описание

Принцип действия микроскопов серии МВ основан на считывании с измерительных шкал осей X, Y значений перемещения подвижного предметного стола. Принцип действия микроскопов серии MBZ основан на считывании с измерительных шкал осей X, Y значений перемещения подвижного предметного стола и с измерительной шкалы оси Z значений перемещения оптоэлектронного измерительного блока. При измерениях по оси Z предусмотрена функция автофокусировки. Результаты измерений отображаются на мониторе персонального компьютера. Измерения проводятся в ручном и автоматическом режимах.

Микроскопы конструктивно состоят из гранитного основания, подвижного предметного стола, вертикальной колонны с оптоэлектронным измерительным блоком, включающим оптическую систему, датчик и осветитель, и персонального компьютера.

Микроскопы видеоизмерительные серии МВ предназначены для измерений в направлении одной оси (Х; Y), в плоскости осей (X, Y), и выпускаются в следующих модификациях: МВ-150, МВ-250, МВ-300, МВ-400, МВ-500, МВ-250 ЧПУ, МВ-300 ЧПУ, МВ-400 ЧПУ, МВ-500 ЧПУ, которые отличаются диапазонами измерений по осям X и Y, согласно таблице 2, наличием органов ручного или автоматического управления.

Микроскопы видеоизмерительные серии MBZ предназначены для измерений в направлении одной оси (Х; Y), в плоскости осей (X, Y), в направлении оси Z, и выпускаются в следующих модификациях: MBZ-150, MBZ-250, MBZ-300, MBZ-400, MBZ-500, MBZ-250 ЧПУ, MBZ-300 ЧПУ, MBZ-400 ЧПУ, MBZ-500 ЧПУ, которые отличаются диапазонами измерений по осям X и Y, согласно таблице 3, наличием органов ручного или автоматического управления, оснащены контактным датчиком для измерений в направлении оси Z.

Фокусировка на измеряемом объекте микроскопов модификаций МВ-150, МВ-250, МВ-300, МВ-400, МВ-500, MBZ-150, MBZ-250, MBZ-300, MBZ-400, MBZ-500 осуществляется вручную с помощью колеса микроподачи на вертикальной колонне или с помощью функций программного обеспечения.

Фокусировка на измеряемом объекте микроскопов модификаций МВ-250 ЧПУ, МВ-300 ЧПУ, МВ-400 ЧПУ, МВ-500 ЧПУ, MBZ-250 ЧПУ, MBZ-300 ЧПУ, MBZ-400 ЧПУ, MBZ-500 ЧПУ, осуществляется с помощью пульта управления или с помощью функций программного обеспечения.

По заказу микроскопы любой модификации могут выпускаться с повышенной точностью в исполнении «Т» или «ТТ».

Микроскопы имеют обозначение МВ^-ХХХ^/ТТ) (ЧПУ), где:

МВ^-ХХХ - модификация с ручным типом управления;

МВ^-ХХХ ЧПУ - модификация с автоматическим управлением электроприводом;

XXX - верхняя граница диапазона измерений в направлении оси Х;

Т/ТТ - исполнение, имеющее повышенную точность измерений.

Общий вид и схема пломбировки от несанкционированного доступа микроскопов видеоизмерительных серий МВ и MBZ приведены на рисунке 1.

место пломбировки

а) микроскоп с ручным типом управления   б) микроскоп с автоматическим управлением

электроприводом (ЧПУ)

Рисунок 1 - Общий вид и схема пломбировки микроскопов видеоизмерительных серий МВ и MBZ

Программное обеспечение

Микроскопы оснащаются программным обеспечением (ПО) ProfVision, представляющим собой программный пакет, устанавливаемый на персональный компьютер.

ПО микроскопов предназначено для отображения результатов измерений, а также для сбора, обработки и хранения измерительной информации.

ПО устанавливается при выпуске из производства и может быть переустановлено в процессе эксплуатации с установочного компакт-диска, входящего в комплект поставки, с применением специального защитного USB-ключа.

Идентификация программного обеспечения осуществляется путем просмотра идентификационных данных ПО на мониторе персонального компьютера при включении микроскопа.

Главной защитой ПО является USB-ключ, не позволяющий использовать неавторизованное ПО.

Уровень защиты ПО и измерительной информации микроскопов от непреднамеренных и преднамеренных изменений «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

ProfVision

Номер версии (идентификационный номер) ПО

не ниже 5.3.1.2

Цифровой идентификатор ПО

отсутствует

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические характеристики микроскопов видеоизмерительных серии МВ

Наименование характеристики

Значение для модификаций

МВ-150

МВ-250 МВ-250 ЧПУ

МВ-300 МВ-300 ЧПУ

МВ-400 МВ-400 ЧПУ

МВ-500 МВ-500 ЧПУ

Диапазон измерений длины, мм - по оси X - по оси Y

от 0 до 150

от 0 до 100

от 0 до 250

от 0 до 150

от 0 до 300

от 0 до 200

от 0 до 400

от 0 до 300

от 0 до 500

от 0 до 400

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины, мкм

- в направлении одной оси (X; Y)

- в плоскости двух осей (X, Y)

±(3+L/200) ±(4,5+L/200)

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины для микроскопов исполнения «Т», мкм

- в направлении одной оси (X; Y)

- в плоскости двух осей (X, Y)

±(2+L/200) ±(2,9+L/200)

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины для микроскопов исполнения «ТТ», мкм

- в направлении одной оси (X; Y)

- в плоскости двух осей (X, Y)

±(1,5+L/100)

±(2,5+L/100)

Цена единицы наименьшего разряда при измерении длины, мм, не более

0,0001

Диапазон измерений плоского угла, °

от 0 до 360

Цена единицы наименьшего разряда при измерении плоского угла, "

1

Пределы допускаемой абсолютной погрешности при измерении плоского угла, "

± 20

где L - измеряемая длина, мм

Таблица 3 - Метрологические характеристики микроскопов видеоизмерительных серии MBZ

Наименование характеристики

Значение для модификаций

MBZ-150

MBZ-250 MBZ-250 ЧПУ

MBZ-300 MBZ-300 ЧПУ

MBZ-400 MBZ-400 ЧПУ

MBZ-500 MBZ-500 ЧПУ

Диапазон измерений длины, мм - по оси X - по оси Y - по оси Z

от 0 до 150

от 0 до 100

от 0 до 100

от 0 до 250

от 0 до 150

от 0 до 200

от 0 до 300

от 0 до 200

от 0 до 200

от 0 до 400

от 0 до 300

от 0 до 200

от 0 до 500

от 0 до 400

от 0 до 200

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины, мкм

- в направлении одной оси (X; Y)

- в плоскости двух осей (X, Y)

- в направлении оси Z

±(3+L/200) ±(4,5+L/200) ±(3+L/100)

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины для микроскопов исполнения «Т», мкм

- в направлении одной оси (X; Y)

- в плоскости двух осей (X, Y)

- в направлении оси Z

±(2+L/200) ±(2,9+L/200) ±(2+L/100)

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины для микроскопов исполнения «ТТ», мкм

- в направлении одной оси (X; Y)

- в плоскости двух осей (X, Y)

- в направлении оси Z

±(1,5+L/100)

±(2,5+L/100) ±(2+L/100)

Цена единицы наименьшего разряда при измерении длины, мм, не более

0,0001

Диапазон измерений плоского угла, °

от 0 до 360

Цена единицы наименьшего разряда при измерении плоского угла, "

1

Пределы допускаемой абсолютной погрешности при измерении плоского угла, "

± 20

где L - измеряемая длина, мм

Таблица 4 - Основные технические характеристики микроскопов видеоизмерительных серии MB

Наименование характеристики

Значение для модификаций

МВ-150

МВ-250

МВ-250 ЧПУ

МВ-300

МВ-300 ЧПУ

МВ-400

МВ-400 ЧПУ

МВ-500

МВ-500 ЧПУ

Параметры электрического питания: - напряжение переменного тока, В - частота переменного тока, Гц

220±22

50

Потребляемая мощность, В •А, не более

1400

Габаритные размеры, мм, не более

- длина

- ширина

- высота

350

560

760

600

720

900

610

730

900

620

850

900

800 1020

900

Масса, без дополнительного оборудования, кг, не более

35

180

200

310

500

Условия эксплуатации:

- температура окружающей среды, °С

- относительная влажность, %

от +15 до +25 от 20 до 80

Средний срок службы, лет, не менее

11

Средняя наработка на отказ, ч

10000

Таблица 5 - Основные технические характеристики микроскопов видеоизмерительных серии MBZ

Наименование характеристики

Значение для модификаций

MBZ-150

MBZ-250

MBZ-250 ЧПУ

MBZ-300

MBZ-300 ЧПУ

MBZ-400

MBZ-400 ЧПУ

MBZ-500

MBZ-500 ЧПУ

Параметры электрического питания: - напряжение переменного тока, В - частота переменного тока, Гц

220±22

50

Потребляемая мощность, В •А, не более

1400

Габаритные размеры, мм, не более

- длина

- ширина

- высота

350

560

760

600

720

900

610

730

900

620

850

900

800

1020

900

Масса, без дополнительного оборудования, кг, не более

35

180

200

310

500

Условия эксплуатации:

- температура окружающей среды, °С

- относительная влажность, %, не более

от +15 до +25 от 20 до 80

Средний срок службы, лет, не менее

11

Средняя наработка на отказ, ч

10000

Знак утверждения типа

наносится на корпус микроскопа способом наклейки, а также типографским способом на титульные листы паспорта и руководства по эксплуатации.

Комплектность

Таблица 6 - Комплектность средства измерений

Наименование комплектующих

Обозначение

Количество

Микроскоп видеоизмерительный серии МВ (MBZ)

МВ-ХХХ(Т/ТТ) (ЧПУ) MBZ-XXX(T/TT) (ЧПУ)

1 шт.

Паспорт

ПНМВМВZ.001-2018 ПС

1 экз.

Руководство по эксплуатации

ПНМВМВZ.001-2018 РЭ

1 экз.

Руководство оператора

ПНМВМВZ.001-2018 РО

1 экз.

Методика поверки

МП 92-233-2018

1 экз.

Программное обеспечение ProfVision, компакт-диск

-

1 шт.

Поверка

осуществляется по документу МП 92-233-2018 «ГСИ. Микроскопы видеоизмерительные серий МВ и MBZ. Методика поверки», утвержденному ФГУП «УНИИМ» 28 января 2019 г.

Основные средства поверки:

Рабочий эталон единицы длины 3-го разряда по ГОСТ Р 8.763-2011 (мера длины штриховая).

Рабочий эталон единицы длины 4-го разряда по ГОСТ Р 8.763-2011 (меры длины концевые плоскопараллельные).

Рабочий эталон единицы плоского угла 4-го разряда по Государственной поверочной схеме для средств измерений плоского угла, утвержденной приказом Росстандарта № 22 от 19.01.2016 г. (угловые меры с одним или четырьмя рабочими углами).

Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик средства измерений с требуемой точностью.

Знак поверки наносится на свидетельство о поверке в виде оттиска поверительного клейма.

Сведения о методах измерений

приведены в эксплуатационном документе.

Нормативные документы

ТУ 26.70.22-002-21563670-2018 «Микроскопы видеоизмерительные серий МВ и MBZ. Технические условия»

Другие Микроскопы

Микроскопы сканирующие электронные серий GeminiSEM, Crossbeam, EVO, SIGMA (далее по тексту - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Микроскопы электронные растровые настольные модификаций Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX, Phenom Pharos, Phenom XL (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного...
Микроскопы сканирующие электронные Hitachi TM4000/TM4000Plus с приставкой для энергодисперсионного микроанализа (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов микрорельефа и электроннозондового рентгеноспектрального каче...
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5000 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметров шероховатости поверхности твердотельных объектов.
Микроскопы сканирующие зондовые VEGA (ВЕГА) (далее C3M) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твёрдых тел.