74835-19: FISCHERSCOPE X-RAY мод. XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-µ Спектрометры-толщиномеры рентгенофлуоресцентные - Производители, поставщики и поверители

Спектрометры-толщиномеры рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY мод. XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-µ

Номер в ГРСИ РФ: 74835-19
Категория: Спектрометры
Производитель / заявитель: Фирма "Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik", Германия
Скачать
74835-19: Описание типа СИ Скачать 821.6 КБ
74835-19: Методика поверки Скачать 7.6 MБ
Заказать
Поставщик: АССА Лабораторные системы
Спектрометры-толщиномеры рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY мод. XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-µ поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Спектрометры-толщиномеры рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY моделей XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-ц (далее - спектрометры-толщиномеры) предназначены для измерений толщины покрытий, а также элементного состава и массовой доли элементов в покрытиях и объемных образцах в соответствии с аттестованными методиками (методами) измерений (при использовании в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений).

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 74835-19
Наименование Спектрометры-толщиномеры рентгенофлуоресцентные
Модель FISCHERSCOPE X-RAY мод. XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-µ
Страна-производитель ГЕРМАНИЯ
Срок свидетельства (Или заводской номер) 23.04.2024
Производитель / Заявитель

Фирма "Helmut Fischer GmbH", Германия

ГЕРМАНИЯ

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 20
Найдено поверителей 2
Успешных поверок (СИ пригодно) 20 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

74835-19: Описание типа СИ Скачать 821.6 КБ
74835-19: Методика поверки Скачать 7.6 MБ

Описание типа

Назначение

Спектрометры-толщиномеры рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY моделей XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-ц (далее - спектрометры-толщиномеры) предназначены для измерений толщины покрытий, а также элементного состава и массовой доли элементов в покрытиях и объемных образцах в соответствии с аттестованными методиками (методами) измерений (при использовании в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений).

Описание

Принцип действия спектрометров-толщиномеров основан на энерогодисперсионном рентгенофлуоресцентном методе анализа. Химические элементы, присутствующие в анализируемом образце, излучают характеристические спектральные линии под действием высокоэнергетического излучения рентгеновской трубки. Вторичное рентгеновское излучение классифицируется по энергии излученных квантов с последующей регистрацией энергетического спектра. Специальное программное обеспечение позволяет рассчитать толщину и элементный состав покрытия.

Конструктивно спектрометры-толщиномеры выполнены в виде настольных приборов с отдельно устанавливаемым компьютером и включают в себя следующие основные составные части:

- корпус, служащий для размещения агрегатов спектрометров-толщиномеров, стабилизации аналитических условий и для защиты пользователя от излучения;

- микрофокусная рентгеновская трубка с вольфрамовым анодом и бериллиевым окном для генерирования первичного излучения;

- источник питания для обеспечения всех частей спектрометров-толщиномеров электроэнергией с определенными характеристиками;

- видеокамера для визуального наведения измерителя на определяемую область;

- детектор для регистрации вторичного спектра, излучаемого образцом;

- измерительная камера с платформой для размещения исследуемого образца;

- диафрагма (коллиматор) для ограничения пучка первичного рентгеновского излучения;

- первичные фильтры для оптимизации спектрального состава первичного рентгеновского излучения в расчете на конкретный образец и блокировки нежелательных компонентов спектра флуоресценции.

Спектрометры-толщиномеры выпускаются в следующих моделях XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-ц, которые отличаются конструкцией измерительной платформы, направлением первичного рентгеновского излучения, типом детектора. У моделей XUL220, XULM240, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-ц первичное рентгеновское излучение поступает на исследуемый образец сверху, у моделей XUL220, XULM240, XAN 250 - снизу. Модели XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XULM240 имеют измерительную платформу с ручным управлением; модели XDL 240 и XDLM 237 - автоматизированную измерительную платформу. Модель XDV-ц оснащена программируемым измерительным столиком с удлиняемым держателем для образцов. Модели спектрометров-толщиномеров XUL220, XULM240, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237 оснащены пропорциональным счетчиком, модели XAN 250, XDV-ц - кремниевым дрейфовым детектором, который обладает более высоким разрешением, что позволяет увеличить количество анализируемых прибором элементов. Модель XDV-ц также оснащена

улучшенной поликапиллярной рентгеновской оптикой, позволяющей фокусировать рентгеновские лучи на сверхмалых исследуемых поверхностях. Поликапиллярная оптика используется вместо магазина коллиматоров и позволяет регулировать площадь измерения, доводя ее до диаметра 20 мкм.

Общий вид спектрометров-толщиномеров с обозначением места нанесения знака поверки представлен на рисунках 1 - 6.

Пломбирование не предусмотрено.

Рисунок 1 - Общий вид Спектрометров-толщиномеров рентгенофлуоресцентных

FISCHERSCOPE X-RAY модели XULM240

Рисунок 2 - Общий вид Спектрометров-толщиномеров рентгенофлуоресцентных

FISCHERSCOPE X-RAY модели XUL220

Место нанесения маркировки

Место нанесения знака поверки

Рисунок 3 - Общий вид Спектрометров-толщиномеров рентгенофлуоресцентных

FISCHERSCOPE X-RAY модели XDLM 237

Рисунок 4 - Общий вид Спектрометров-толщиномеров рентгенофлуоресцентных

FISCHERSCOPE X-RAY модели XAN 250

Место нанесения маркировки

Место нанесения знака поверки

Рисунок 5 - Общий вид Спектрометров-толщиномеров рентгенофлуоресцентных

FISCHERSCOPE X-RAY моделей XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240

Рисунок 6 - Общий вид Спектрометров-толщиномеров рентгенофлуоресцентных

FISCHERSCOPE X-RAY модели XDV-ц

Программное обеспечение

Управление спектрометрами-толщиномерами и обработка результатов измерений проводится с помощью специального программного обеспечения WinFTM, установленного на персональный компьютер. Программное обеспечение (ПО) также служит для настройки спектрометров-толщиномеров, проведения измерений, включая визуальный анализ экспериментальных данных, анализа и обработки полученных данных. Измеренные значения сохраняются в памяти персонального компьютера и отображаются на мониторе.

С помощью программного обеспечения WinFTM можно создавать шаблоны для печати протоколов измерений и экспортировать результаты измерений в другие приложения.

ПО состоит из двух функциональных частей:

- часть, описывающая образец, используется для выполнения измерений на образцах;

- часть, описывающая набор калибровочных эталонов, используется для калибровки и периодического контроля спектрометров-толщиномеров.

Программное обеспечение размещается в энергонезависимой памяти персонального компьютера. Функциональность различных версий и дополнительных модулей программы WinFTM разблокируется разными аппаратными ключами, или FISIM (Fischer Software Identification Module). FISIM — это заглушка, вставляемая в порт USB компьютера перед запуском программы WinFTM.

Защита программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «высокий» согласно Р 50.2.077-2014.

Программное обеспечение (ПО) имеет следующие идентификационные данные.

Таблица 1 - Идентификационные данные ПО

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

WinFTM

Номер версии (идентификационный номер) ПО, не ниже

6.35

Цифровой идентификатор ПО

-

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические характеристики

Наименование характеристики

Значение

XUL220, XULM240, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237

XAN 250

XDV-li

Диапазон измерений толщины покрытия, мкм

от 0,5 до 22,0

Пределы допускаемой относительной погрешности измерений толщины одиночного покрытия на однородной основе в диапазоне от 0,5 до 22,0 мкм, %

±10

±5

Диапазон измерений массовой доли элементов, %

от 2,0 до 100,0

от 0,1 до 100,0

Пределы допускаемой относительной погрешности измерений массовой доли элементов в однородном объемном образце, %

±10

±5

Таблица 3 - Основные технические характеристики

Наименование характеристики

Значение

XUL220, XULM240

XDLM 237

XDL 210

XDL 220

XDL 230

XDL 240

XAN 250

XDV-ц

Анализируемые элементы

от Cl17 до U92

от Al13 до U92

Диапазон показаний толщины покрытия, мкм

от 0,1 до 60,0

от 0,01 до 60,0

от 0,001 до 60,0

Количество анализируемых слоев покрытия, включая основание

24

Допускаемое отклонение показаний измерения толщины покрытия в диапазоне от 0,1 до 60,0 мкм 1), %

±5

±3

±3

Диапазон показаний массовой доли элементов, %

от 0,1 до 100,0

Допускаемое         отклонение

показаний измерения массовой доли элементов 1), %

±5

±3

±3

Г абаритные размеры (длинахширинахвысота), мм, не более:

- спектрометров-толщиномеров

- внутренней камеры

403x588x444

403x588x174

570x760x650

460x495x146

660x835x365

460x495x140

403x588x365 310x320x90

660x835x720

580x560x145

Масса, кг, не более

45

120

94

99

107

120

45

135

Максимальный вес образца, выдерживаемый измерительным столиком, кг, не более

2

5

20

5

2

5

Потребляемая мощность, кВт

0,12

Параметры электрического питания:

- напряжение переменного тока, В - частота переменного тока, Гц

от 210 до 230 от 50 до 60

Продолжение таблицы 3

Наименование характеристики

Значение

XUL220, XULM240

XDLM 237

XDL 210

XDL 220

XDL 230

XDL 240

XAN 250

XDV-ц

Условия эксплуатации:

- температура окружающей среды, °С

- относительная влажность воздуха, %, не более

- атмосферное давление, кПа

от +10 до +40

95 от 94 до 106

1) Определяется по калибровочным образцам, входящим в комплект поставки.

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист руководства по эксплуатации печатным методом и на заднюю панель корпуса спектрометров-толщиномеров методом наклеивания.

Комплектность

Таблица 4 - Комплектность средства измерений

Наименование

Обозначение

Количество

Спектрометр-толщиномер рентгенофлуоресцентный FISCHERSCOPE X-RAY модели XUL220/ XULM240/ XAN 250/ XDL 210/ XDL 220/ XDL 230/ XDL 240/ XDLM 237/ XDV-ц

-

1 шт.

Набор крепежных принадлежностей

-

1 шт.

Набор калибровочных образцов «HELMUT FISCHER GMBH»

-

1 шт.

USB-кабель

-

1 шт.

Компьютер

-

1 шт.

Принтер

-

1 шт.

CD-диск с программным обеспечением WinFTM

-

1 шт.

FISIM (аппаратный ключ для разблокировки ПО)

-

1 шт.

Руководство по эксплуатации

-

1 экз.

Методика поверки

МП 086.Д4-18

1 экз.

Поверка

осуществляется по документу МП 086.Д4-18 «ГСИ. Спектрометры-толщиномеры рентгенофлуоресцентные FISCHERSCOPE X-RAY моделей XUL220, XULM240, XAN 250, XDL 210, XDL 220, XDL 230, XDL 240, XDLM 237, XDV-ц. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 29 октября 2018 г.

Основные средства поверки:

- стандартные образцы поверхностной плотности и толщины никелевого покрытия на дюралюминии (набор СО УНИИМ ППТ-1-Н) ГСО 11092-2018/ГСО 11105-2018 (поверхностная плотность покрытия от 4,0 до 1000,0 г/м2, толщина покрытия от 0,50 до 112,4 мкм, относительная погрешности аттестованного значения ±2,5  % при доверительной

вероятности 0,95);

- стандартные образцы состава, поверхностной плотности, толщины олово-висмутового покрытия на меди (СО УНИИМ ППТМ-ОВ/М-1, СО УНИИМ ППТМ-ОВ/М-2, СО УНИИМ ППТМ-ОВ/М-3, СО УНИИМ ППТМ-ОВ/М-4) ГСО 11156-2018/ГСО11159-2018 (толщина покрытия от 2,0 до 20,0 мкм, относительная погрешности аттестованного значения ±2,5 % при доверительной вероятности 0,95);

- стандартные образцы состава золота лигатурного ГСО 8756-2006/ГСО 8758-2006/ ГСО 8760-2006/ГСО 8763-2006.

Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью.

Знак поверки наносится на корпус спектрометров-толщиномеров (место нанесения указано на рисунках 1 - 6).

Сведения о методиках (методах) измерений приведены в эксплуатационном документе.

Нормативные документы

ГОСТ Р 8.735.0-2011 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений содержания компонентов в жидких и твердых веществах и материалах. Основные положения

Р 50.2.006-2001 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм

Приказ Росстандарта № 2089 от 28.09.2018 г. Об утверждении государственной поверочной схемы для средств измерений поверхностной плотности и массовой доли элементов в покрытиях

Техническая документация «HELMUT FISCHER GMBH», Германия

Другие Спектрометры

74895-19
SIGIS 2 Фурье-спектрометры инфракрасные
Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия
Фурье-спектрометры инфракрасные SIGIS 2 (далее - спектрометры) предназначены для измерения оптических спектров в инфракрасном (ИК) диапазоне, для анализа органических и неорганических веществ в газообразной фазе.
Спектрометры атомно-эмиссионные тлеющего разряда LECO GDS900 (далее -спектрометры) предназначены для измерения массовой доли элементов в черных и цветных металлах по стандартизованным и аттестованным методикам измерений.
75001-19
Q4 TASMAN Спектрометры оптические эмиссионные
Фирма "Bruker AXS GmbH", Германия
Спектрометры оптические эмиссионные Q4 TASMAN (далее - спектрометры) предназначены для измерений массовой доли элементов в металлах и сплавах в соответствии с аттестованными (стандартизованными) методами (методиками) измерений (при использовании в сф...
75035-19
PHI-670xi Спектрометр оже-электронный
Фирма "Physical Electronics, Inc.", США
Спектрометр оже-электронный PHI-670xi (далее по тексту - спектрометр) предназначены для измерений энергии и интенсивности линий оже-электронов, эмиттируемых образцом при облучении его электронным пучком.
Спектрометры рентгенофлуоресцентные энергодисперсионные РЕАН-М (далее -спектрометры) предназначены для измерений массовой доли элементов в пробах твердых и жидких веществ, порошков, пленок и других материалов в соответствии с аттестованными и стандар...