8138-81: УМИ-2Ц Микроскопы унифицированные - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы унифицированные УМИ-2Ц

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 8138-81
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Приборостроительный завод им.В.И.Ленина, РОССИЯ, г.Новосибирск
Нет данных о поставщике
Поверка
Микроскопы унифицированные УМИ-2Ц поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 8138-81
Наименование Микроскопы унифицированные
Модель УМИ-2Ц
Код идентификации производства ОС
СИ не соответствует критериям подтверждения производства на территории РФ в соответствии с постановлением №719
Характер производства Серийное
Идентификатор записи ФИФ ОЕИ d13d67b2-1b42-1620-7e8f-c7321e659219
Год регистрации 1983
Информация устарела
Общие данные
Источник информации 62-83г с.09
Класс СИ 27.01
Год регистрации 1983
Страна-производитель  СССР 
Примечание Исключен в 1983 г.
Центр сертификации СИ
Наименование центра -
Телефон ()
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата нет
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 1983
Производитель / Заявитель

Приборостроительный завод им.В.И.Ленина, РОССИЯ, г.Новосибирск

 СССР 

-

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки -
Зарегистрировано поверок
Найдено поверителей
Успешных поверок (СИ пригодно) 196 (97%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 6 (3 %)
Актуальность информации 28.12.2025
Найти результаты поверки
Указан в паспорте или на самом приборе

Поверители

КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг
Микроскопы унифицированные УМИ-2Ц поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Другие Микроскопы

Микроскопы сканирующие электронные SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500M предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Микроскопы световые инвертированные Axio Observer.Alm, Axio Observer.Dlm, Axio Observer.Zlm, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7 (далее по тексту -микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных стру...
Микроскоп электронный сканирующий Verios 460 XYR SEM с системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микрорельефа, электроннозондо-во...