83645-21: TESCAN Микроскопы сканирующие электронные - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы сканирующие электронные TESCAN

Номер в ГРСИ РФ: 83645-21
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "TESCAN, a.s.", Чехия
Скачать
83645-21: Описание типа СИ Скачать 664.3 КБ
83645-21: Методика поверки МП 203-19-2021 Скачать 3 MБ
Нет данных о поставщике
Микроскопы сканирующие электронные TESCAN поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскопы сканирующие электронные TESCAN (далее микроскопы) предназначены для измерений размеров, формы, ориентации и других параметров нано - и микроструктур поверхностей различных объектов.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 83645-21
Наименование Микроскопы сканирующие электронные
Модель TESCAN
Страна-производитель ЧЕШСКАЯ РЕСПУБЛИКА
Производитель / Заявитель

TESCAN Brno s.r.o., Чешская Республика

ЧЕШСКАЯ РЕСПУБЛИКА

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 16
Найдено поверителей 1
Успешных поверок (СИ пригодно) 16 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 27.03.2024

Поверители

Скачать

83645-21: Описание типа СИ Скачать 664.3 КБ
83645-21: Методика поверки МП 203-19-2021 Скачать 3 MБ

Описание типа

Назначение

Микроскопы сканирующие электронные TESCAN (далее микроскопы) предназначены для измерений размеров, формы, ориентации и других параметров нано- и микроструктур поверхностей различных объектов.

Описание

Принцип работы микроскопов основан на физических эффектах взаимодействия поверхности твердого образца со сфокусированным пучком электронов. Изображение объекта формируется в результате развертки (сканирования) электронного пучка по области образца. Максимальное увеличение и разрешающая способность микроскопа зависят от типа образцов и условий исследований.

Микроскопы состоят из электронной колонны, вакуумной системы, управляющей электроники, набора детекторов, форвакуумного насоса и стола оператора с персональным компьютером.

Управляющая электроника обеспечивает функционирование всех частей прибора, а также получение информации с детекторов различных видов. Детекторы позволяют получать информацию о топографии, вариациях состава, механических, электрофизических и других параметрах. На микроскопах могут быть установлены: детектор вторичных электронов (внутрикамерный, встроенный в объективную линзу, для работы в режиме низкого вакуума), детектор обратно отражённых (внутрикамерный, встроенный в объективную линзу), детектор прошедших электронов, детектор катодолюминесцентного излучения, детектор вторичных ионов, а также других специализированных детекторов.

К блоку с колонной присоединяется форвакуумный насос для откачки вакуумной системы микроскопа. Стол оператора служит как для размещения органов управления микроскопом (трекбол, клавиатура, мышь, монитор), так и используется для подготовки образцов перед исследованием. Остальные элементы, обеспечивающие функционирование прибора интегрированы в блок электроники и пространство под камерой микроскопа.

Исследуемые образцы устанавливают в вакуумную камеру с помощью разнообразных держателей. Один из возможных стандартных держателей выполнен в виде диска диаметром 12.5 мм с ножкой для фиксации диаметром 3.0 мм.

Для повышения производительности и удобства работы к микроскопам может подключаться выносная панель с ручками, предназначенная для быстрого изменения и контроля основных параметров.

Дополнительно возможна установка на микроскоп следующих аналитических систем и дополнений: система энергодисперсионного микроанализа, система волнодисперсионного микроанализа, система определения фазового состава, структуры и текстуры методом анализа картин дифракции обратно отраженных электронов, а также других специализированных решений.

Микроскопы сканирующие электронные TESCAN изготавливаются следующих модификаций VEGA, MIRA, TIMA, CLARA, AMBER, AMBER X, MAGNA, SOLARIS, SOLARIS X. В зависимости от типоразмера камеры образцов микроскопы перечисленных модификаций, имеют дополнительные обозначения - Compact, LM и GM. Дополнительно к обозначению типоразмера камеры образцов добавляются буквы английского алфавита (S, H, U), например, VEGA LMS, MIRA GMU, CLARA LMH, обозначающие возможные режимы работы вакуумной системы.

Указанные микроскопы сканирующие электронные перечисленных модификаций, имеют дополнительную цифробуквенную кодировку двух видов «SXXXX» и «SXXXXX», где X - любая цифра или буква английского алфавита. Заводские номера наносятся на заднюю часть корпуса микроскопов в виде этикетки (шильдика) и имеют буквенно-цифровое обозначение.

Конструкция микроскопов обеспечивает ограничение доступа к составным частям с целью предотвращения несанкционированных настроек (регулировок), которые могут привести к искажению результатов измерений, поэтому пломбирование корпуса микроскопов от несанкционированного доступа не предусмотрено.

Общий вид микроскопов сканирующих электронных TESCAN приведен на рисунке 1.

а)                                                       б)

в)

г)

е)

ж)

з)

Рисунок 1 - внешний вид микроскопов сканирующих электронных TESCAN а) VEGA; б) MIRA; в) TIMA; г) CLARA; е) AMBER, AMBER X; ж) MAGNA;

з) SOLARIS, SOLARIS X

Программное обеспечение

Микроскопы оснащены программным обеспечением (ПО) «Tescan Essence». Вычислительные алгоритмы ПО расположены в заранее скомпилированных бинарных файлах и не могут быть модифицированы, они блокируют редактирование для пользователей и не позволяют удалять, создавать новые элементы или редактировать отчеты.

аблица 1 - Идентификационные данные ПО микроскопов

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

Tescan Essence

Номер версии (идентификационный номер) ПО, не ниже

1.0.0.0

Цифровой идентификатор ПО

-

Программное обеспечение является неизменным. Средства для программирования или изменения метрологически значимых функций отсутствуют, что исключает влияние ПО на метрологические характеристики микроскопов.

Защита программного обеспечения микроскопов соответствует уровню «средний» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические характеристики микроскопов

Наименование характеристики

Значение

Модификация

VEGA, MIRA, TIMA

CLARA, AMBER, AMBER X

MAGNA, SOLARIS, SOLARIS X

Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY, мм

от 0,0003 до 10

Пределы допускаемой относительной погрешности, %

±3

Таблица 3 - Технические характеристики микроскопов

Наименование характеристики

Значение

Модификация

VEGA

M

IRA

TI

MA

CLARA

Compact

LM

GM

LM

GM

LM

GM

LM

GM

Разрешение, нм, не более

3

1,2

0,9

Максимальная высота образца, мм: - со столиком вращения - без столика вращения

54

81

106

147

54

81

106

147

54

81

106

147

49

76

95

136

Диапазон наклона столика образцов, градусы

от

-80

до +80

от -60

до +90

от

-80

до +80

от

-60

до +90

от

-80

до +80

от -60

до +90

от

-80

до +80

от -60

до +90

Перемещение столика образцов, мм, не менее:

- по оси X

- по оси Y

- по оси Z

80

60

50

130

130

100

80

60

50

130

130

100

78

60

31

130

130

100

80

60

49

130

130 95

Диапазон вращения столика образцов, градусы

от 0 до 360

Параметры электрического питания:

- напряжение переменного тока, В - частота переменного тока, Гц

230±23

50±2,5

Габаритные размеры, мм, не более - длина - ширина - высота

3000

1500

2000

3000

1500

2000

3000

1500

2000

3000

1500

2000

Масса, кг, не более

500

600

700

800

Условия эксплуатации:

- температура окружающей среды, °С

- относительная влажность, %

от +17 до +28

до 65

от +17 до +24

до 65

Увеличение, крат

От 2 до 1 000 000

от 2 до

2 000 000

Давление в камере, Па, не более

1x10’2

Продолжение таблицы 3

Наименование характеристики

Значение

Модификация

AMBER, AMBER X

MAGNA

SOLARIS, SOLARIS X

LM

GM

Разрешение, нм, не более

0,9

0,6

0,6

Максимальная высота образца, мм: - со столиком вращения - без столика вращения

90

132

45

72

90

131

90

132

Диапазон наклона столика образцов, градусы

от

-60 до +90

от

-80 до +80

от

-60 до +90

от

-60 до +90

Перемещение столика образцов, мм, не менее: - по оси X - по оси Y - по оси Z

130

130

90

80

60

45

130

130 90

130

130 90

Диапазон вращения столика образцов, градусы

от 0 до 360

Параметры электрического питания: - напряжение переменного тока, В - частота переменного тока, Гц

230±23

50±2,5

Габаритные размеры, мм, не более - длина - ширина - высота

3000

1500

2000

3000

1500

2000

3000

1500

2000

Масса, кг, не более

1100

800

1100

Условия эксплуатации:

- температура окружающей среды, °С

- относительная влажность, %

от +17 до +24

до 65

Увеличение, крат

от 2 до

2 000 000

от 4 до 2 000 000

Давление в камере, Па, не более

1*10’2

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист Руководства по эксплуатации типографским способом.

Комплектность

Таблица 4 - Комплектность средства измерений

Наименование

Обозначение

Количество

Микроскоп сканирующий электронный

TESCAN

1 шт.

Компьютер с ПО

1 шт.

Руководство по эксплуатации

1 экз.

Сведения о методах измерений

приведены в разделе «Измерения» руководств по эксплуатации.

Нормативные документы

Техническая документация TESCAN Brno s.r.o., Чехия

Другие Микроскопы

84113-21
Thermo Fisher Scientific Микроскопы сканирующие электронные
Thermo Fisher Scientific Brno s.r.o., Чешская Республика
Микроскопы сканирующие электронные Thermo Fisher Scientific (далее микроскопы) предназначены для измерений размеров, формы, ориентации и других параметров нано- и микроструктур поверхностей различных объектов.
84441-22
Микроскопы электронные просвечивающие
Фирма Thermo Fisher Scientific, Нидерланды
Микроскопы электронные просвечивающие (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, микро- и наночастиц на пленке-подложке, определения параметров кристаллической решетки и...
84445-22
NTEGRA Микроскопы сканирующие зондовые
Общество с ограниченной ответственностью "НТ-МДТ" (ООО "НТ-МДТ"), г. Москва, г. Зеленоград
Микроскопы сканирующие зондовые NTEGRA (далее C3M) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твёрдых тел.
84447-22
МПБ Микроскопы отсчётные
Общество с ограниченной ответственностью "Восток-7" (ООО "Восток-7"), г. Москва
Микроскопы отсчётные МПБ (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров в отражённом свете, в том числе для измерений диаметра отпечатка (лунки), образуемого на поверхности различных металлов при определении твёрдости по методу Бр...
Система микроскопической инспекции FEI Helios G4 CX (далее - система) предназначена для измерений линейных размеров в плоскости XY нано- и микроструктур поверхностей различных объектов.