96192-25: ВИМ-II Микроскопы видеоизмерительные - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы видеоизмерительные ВИМ-II

Номер в ГРСИ РФ: 96192-25
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: ООО "ФОДИС", Московская обл., г. Королев
Скачать
96192-25: Описание типа
2025-96192-25-1.pdf
Скачать 377.1 КБ
96192-25: Методика поверки МП 203-02-2025
2025-mp96192-25-1.pdf
Скачать 1.6 MБ
Нет данных о поставщике
Поверка
Микроскопы видеоизмерительные ВИМ-II поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскопы видеоизмерительные ВИМ-II (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных и контактных измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 96192-25
Действует по 21.08.2030
Наименование Микроскопы видеоизмерительные
Модель ВИМ-II
Модификации ВИМ-II 250ВВПА
ВИМ-II 300ВВАК
ВИМ-II 400ВВПАК
Приказы
1723 от 21.08.2025 — Об утверждении типов средств измерений
Код идентификации производства ОС
СИ не соответствует критериям подтверждения производства на территории РФ в соответствии с постановлением №719
Характер производства Серийное
Идентификатор записи ФИФ ОЕИ aa463b13-80b8-590e-6cd5-de7d6aae67bd
Испытания
Дата Модель Заводской номер
17.01.2025 ВИМ-II 400ВВПАК Р2210000601
17.01.2025 ВИМ-II 300ВВАК Р2307000601
17.01.2025 ВИМ-II 250ВВПА BC0118
Производитель / Заявитель

ООО "Фодис", РОССИЯ, No. 66 Dongfang Road, Jingkou District, Zhenjiang City, Jiangsu Province

Поверка

Методика поверки / информация о поверке
МП 203-02-2025 Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы видеоизмерительные ВИМ-II. Методика поверки (с 21.08.2025)
Межповерочный интервал / Периодичность поверки
1 год
Зарегистрировано поверок
Актуальность информации 21.12.2025
Найти результаты поверки
Указан в паспорте или на самом приборе

Поверители

КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг
Микроскопы видеоизмерительные ВИМ-II поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Скачать

96192-25: Описание типа
2025-96192-25.pdf Файл устарел
Скачать 377.1 КБ
96192-25: Методика поверки
2025-mp96192-25.pdf Файл устарел
Скачать 1.6 MБ
96192-25: Описание типа
2025-96192-25-1.pdf
Скачать 377.1 КБ
96192-25: Методика поверки МП 203-02-2025
2025-mp96192-25-1.pdf
Скачать 1.6 MБ

Описание типа

Назначение

Микроскопы видеоизмерительные ВИМ-II (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных и контактных измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.

Описание

Принцип действия микроскопов основан на измерении размеров детали по изображению, полученному со встроенного оптоэлектронного измерительного блока.

Микроскопы имеют жесткую консольную конструкцию и состоят из предметного стола, измерительных шкал (по осям X, Y и Z), оптоэлектронного измерительного блока, вычислительного блока. Измерения по оси Z выполняются с использованием функции автофокусировки. При необходимости, микроскопы могут быть оснащены контактным датчиком ТР20 или MCP, а также бесконтактным лазерным датчиком. Результаты измерений отображаются на мониторе персонального компьютера. Измерения проводятся в ручном, автоматическом или полуавтоматическом режимах.

Микроскопы конструктивно состоят из гранитного основания, подвижного предметного стола, вертикальной колонны с оптоэлектронным измерительным блоком, включающим оптическую систему, датчик и осветитель, и персонального компьютера.

В зависимости от диапазонов измерений по осям X и Y микроскопы изготавливают разных модификаций (табл. 2, 3): ВИМ-II 150, ВИМ-II 200, ВИМ-II 250, ВИМ-II 300,

ВИМ-II 400, ВИМ-II 500.

Модификации микроскопов могут иметь разные исполнения, отличающиеся типом управления перемещений по осям X, Y, Z, оснащением дополнительными датчиками для измерений линейных размеров по оси Z (контактными, лазерными). Также микроскопы могут изготавливаться с уменьшением габаритов и массы.

В зависимости от исполнения микроскопы имеют обозначение ВИМ-П_1__2_ _3__4  5 , где:

1 - верхняя граница наибольшего из диапазонов измерений в направлении

осей Х и Y (150, 200, 250, 300, 400, 500);

2 - исполнение, имеющее высокую или повышенную точность (В - высокоточный или ВВ с повышенной точностью) и без обозначения для стандартной точности;

3 - тип управления (ПА - полуавтоматическое (моторизированная ось Z),

А - полностью автоматическое) и без обозначения в случае механического перемещения стола;

4 - контактная система (К - при наличии контактного щупа, Л - при наличии лазерного датчика, ЛК - при наличии контактного щупа и лазерного датчика) и без обозначения для измерений только автофокусом;

5 - указывается только для исполнений микроскопов с уменьшенными

массогабаритными размерами и с внедрённой возможностью использования измерительного программного обеспечения М3 (при этом обозначается М3).

Нанесение знака поверки на микроскопы не предусмотрено. Серийный номер наносится на таблички, расположенные в местах, указанных на рисунке 2, и имеет буквенноцифровое обозначение (рисунок 1). Постоянные надписи маркировки на табличке выполнены фотохимическим способом, а переменные надписи выполнены ударным способом. Пломбировка выполнена с помощью наклейки самоклеящейся ленточной с индикацией при вскрытии.

Общий вид микроскопов представлен на рисунке 3.

НФОРИС1 ООО «ФОДИС»

ВИДЕОИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП ВИМ-11

Исполнение BIIM-IIЗООВВАК

Серийный номер Р2307000601

ТУ 26.70.22-002-36088358-2024

Степень защиты IP 20

Напряжение 220 В

Частота max 50 Гц

Мощность не более 500 Вт

Дата изготовления Ноябрь 2024 г.

Место нанесения табличек с серийными номерами и букбенно-иифробыми обозначениями

Рисунок 1 - Внешний вид таблички

Рисунок 2 - Место нанесения табличек с серийным номером

(а)

(б)

Рисунок 3 - Общий вид микроскопов:

а) микроскопы модификаций ВИМ-II 150, ВИМ-II 200, ВИМ-II 250, ВИМ-II 300;

б) микроскопы модификаций ВИМ-II 400, ВИМ-II 500;

в) микроскопы модификаций ВИМ-II 150, ВИМ-II 200, ВИМ-II 250, ВИМ-II 300, ВИМ-II 400, ВИМ-II 500 с уменьшенными массогабаритными размерами

Программное обеспечение

Микроскопы работают под управлением встроенного метрологически значимого программного обеспечения (далее - ПО), предназначенного для обеспечения взаимодействия узлов прибора, выполнения, сохранения и обработки результатов измерений.

Вычислительные алгоритмы ПО расположены в заранее скомпилированных бинарных файлах и не могут быть модифицированы. ПО блокирует редактирование для пользователей и не позволяет удалять, создавать новые элементы или редактировать измеренные значения. Для защиты ПО от несанкционированного доступа используют защитный USB-ключ.

Защита ПО от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «средний» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

Идентификационные данные ПО приведены в таблице 1. У каждого экземпляра микроскопа может быть одно из приведенных в таблице 1 ПО.

Таблица 1 - Идентификационные данные ПО

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

FodiSoft

INS-C (Ins-M)

M3

MSU-3DPro

Gview DMIS CNC

RationalVue

Номер версии (идентификационный номер) ПО

V. 9.00 и выше

V 5.0.0.0 и выше

V.3.00.00 и выше

V.95.00.0000 и выше

V. 3.0.0.0 и выше

V. 2.1 и выше

Цифровой идентификатор ПО

отсутствует

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические характеристики микроскопов модификаций ВИМ-II 150,

ВИМ-II 200 и ВИМ-II 250

Наименование характеристики

Значение для модификаций

ВИМ-II 150

ВИМ-II 200

ВИМ-II 250

Диапазон измерений длины, мм

- по оси X

- по оси Y

- по оси Z1)

от 0 до 150

от 0 до 100

от 0 до 100

от 0 до 200

от 0 до 100

от 0 до 200

от 0 до 250

от 0 до 150

от 0 до 200

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины, мкм2)

- в направлении одной оси (X; Y)

- в направлении оси Z при измерении автофокусом3)

- в направлении оси Z при измерении контактной системой

- в направлении оси Z при измерении лазерной системой

±(2,9+L/250)

±(10+L/25)

±(1,9+L/200)

±(2,0+L/200)

Продолжение таблицы 2

Наименование характеристики

Значение для модификаций

ВИМ-II 150  ВИМ-II 200  ВИМ-II 250

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины для микроскопов исполнения «В», мкм2)

- в направлении одной оси (X; Y)

- в направлении оси Z при измерении автофокусом3)

- в направлении оси Z при измерении контактной системой

- в направлении оси Z при измерении лазерной системой

±(1,9+L/250)

±(10+L/25)

±(1,9+L/200)

±(2,0+L/200)

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины для микроскопов исполнения «ВВ», мкм2)

- в направлении одной оси (X; Y)

- в направлении оси Z при измерении автофокусом3)

- в направлении оси Z при измерении контактной системой

- в направлении оси Z при измерении лазерной системой

±(1,4+L/250)

±(10+L/25)

±(1,9+L/200)

±(2,0+L/200)

Диапазон измерений плоского угла

от 0 до 360°

Пределы допускаемой абсолютной погрешности при измерении плоского угла

±14''

Примечания:

1) по заказу возможно изменение диапазона до 100, 200, 300, 400 или 500 мм, значение приведено в паспорте

2) L - измеряемая длина в мм

3) при оптическом увеличении 4,5 крат и выше

Таблица 3 - Метрологические характеристики микроскопов модификаций ВИМ-II 300,

ВИМ-II 400 и ВИМ-II 500

Наименование характеристики

Значение для модификаций

ВИМ-II 300

ВИМ-II 400

ВИМ-II 500

Диапазон измерений длины, мм

- по оси X

- по оси Y

- по оси Z1)

от 0 до 300

от 0 до 200

от 0 до 200

от 0 до 400

от 0 до 300

от 0 до 200

от 0 до 500

от 0 до 400

от 0 до 200

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины, мкм2)

- в направлении одной оси (X; Y)

- в направлении оси Z при измерении автофокусом3)

- в направлении оси Z при измерении контактной системой

- в направлении оси Z при измерении лазерной системой

±(2,9+L/250)

±(10+L/25)

±(1,9+L/200)

±(2,0+L/200)

Продолжение таблицы 3

Наименование характеристики

Значение для модификаций

ВИМ-II 300

ВИМ-II 400

ВИМ-II 500

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины для микроскопов исполнения «В», мкм2)

- в направлении одной оси (X; Y)

- в направлении оси Z при измерении автофокусом3)

- в направлении оси Z при измерении контактной системой

- в направлении оси Z при измерении лазерной системой

±(1,9+L/250)

±(10+L/25)

±(1,9+L/200)

±(2,0+L/200)

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений длины для микроскопов исполнения «ВВ», мкм2)

- в направлении одной оси (X; Y)

- в направлении оси Z при измерении автофокусом3)

- в направлении оси Z при измерении контактной системой

- в направлении оси Z при измерении лазерной системой

±(1,4+L/250)

±(10+L/25)

±(1,9+L/200)

±(2,0+L/200)

Диапазон измерений плоского угла

от 0 до 360°

Пределы допускаемой абсолютной погрешности при измерении плоского угла

±14''

Примечания:

1) по заказу возможно изменение диапазона до 100, 200, 300, 400 или 500 мм, значение приведено в паспорте

2) L - измеряемая длина в мм

3) при оптическом увеличении 4,5 крат и выше

Таблица 4 - Технические характеристики

Наименование характеристики

Значение для модификаций

ВИМ-II 150

ВИМ-II 200

ВИМ-II 250

ВИМ-II 300

ВИМ-II 400

ВИМ-II 500

Цена единицы наименьшего разряда при измерении плоского угла,

1''

Цена единицы наименьшего разряда

0,0001

при измерении длины, мм, не более

Габаритные размеры, мм, не более

- длина

620

704

704

854

1100

- ширина

600

732

732

932

1100

- высота

870

1000

1000

1100

1200

Продолжение таблицы 4

Наименование характеристики

Значение для модификаций

ВИМ-II 150

ВИМ-II 200

ВИМ-II 250

ВИМ-II 300

ВИМ-II 400

ВИМ-II 500

Масса, без дополнительного оборудования, кг, не более

150

180

190

290

490

Максимальная

равнораспределенная нагрузка на предметный стол, кг, не более

30

Параметры

электрического питания:

- напряжение переменного тока, В

- частота переменного тока, Гц, не более

220±22

50

Потребляемая мощность, Вт, не более

400 (с ручным типом управления)/

500 (с автоматическим и полуавтоматическим типом управления)

Условия эксплуатации: - температура

окружающей среды, °С - относительная

влажность, %

от +15 до +25

от 20 до 80

Таблица 5 - Показатели надежности

Наименование характеристики

Значение

Средний срок службы, лет, не менее

12

Средняя наработка на отказ, ч

1100

Знак утверждения типа

наносится на табличку с серийным номером фотохимическим способом и титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.

Комплектность

Таблица 6 - Комплектность средства изме

эений

Наименование

Обозначение

Количество

Микроскоп видеоизмерительный

ВИМ-II

1 шт.

Компьютер с ПО

-

1 шт.

Руководство по эксплуатации

-

1 экз.

Паспорт

-

1 экз.

Сведения о методах измерений

приведены в разделе 7 «Измерения» документа «Микроскопы видеоизмерительные ВИМ-II. Руководство по эксплуатации».

Нормативные документы

Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1-10’9 до 100 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм, утвержденная приказом Росстандарта № 2840 от 29.12.2018 г;

Государственная поверочная схема для средств измерений плоского угла, утвержденная приказом Росстандарта № 2482 от 26.11.2018 г;

ТУ 26.70.22-002-36088358-2024 «Микроскопы видеоизмерительные ВИМ-II. Технические условия».

Другие Микроскопы

96261-25
UNIMETRO ULTRA Микроскопы видеоизмерительные консольные
Dongguan UNIMEТRO Precision Machinery Со., Ltd, КИТАЙ, No.4 Gangtou Hengcheng Road, Xin'an community, Chang'an Town, Dongguan City
Микроскопы видеоизмерительные консольные UNIMETRO ULTRA (далее - приборы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.
96307-25
LEXT OLS4100-SAF Микроскоп конфокальный лазерный измерительный
OLYMPUS Corporation, ЯПОНИЯ, Shinjuku Monolith, 2-3-1, Nishi-Shinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 163-0914
Микроскоп конфокальный лазерный измерительный LEXT OLS4100-SAF (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z и параметра шероховатости поверхности твердотельных объектов.
96294-25
Helios NanoLab 650 Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный
FEI Company, СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ, 5350 NE Dawson Creek Drive, Hillsboro, Oregon, 97124
Микроскоп электронно-ионный растровый измерительный Helios NanoLab 650 (далее -микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и структур, проведения локальной стру...
96755-25
EM Микроскопы сканирующие электронные измерительные
COXEM Co., Ltd., КОРЕЯ, РЕСПУБЛИКА, #201 199, Techno 2-ro (Migun Techno-World 1-cha), Yuseong-gu, Daejeon, 34025
Микроскопы сканирующие электронные измерительные EM (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа и локального электронно-зондового элемент...
96748-25
УИМ Микроскопы универсальные измерительные
АО «РИК», РОССИЯ, 355020, Ставропольский край, г. Ставрополь, ул. Объездная, д. 27
Микроскопы универсальные измерительные УИМ (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров различных изделий в прямоугольных и полярных координатах.