Фирма "NIKON Corporation", Япония

Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L200ND (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров функциональных нано- и микроструктур различной природы, а также получение изображений их внешнего вида.

Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L300N (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров функциональных нано- и микроструктур различной природы, а также получение изображений их внешнего вида.

Проекторы измерительные профильные серий V-12, V-20 (далее - проекторы) предназначены для измерений линейных и угловых размеров профилей и элементов поверхностей деталей в проходящем и отраженном свете.

Комплексы видеоизмерительные серий iNexiv VMA, Nexiv VMR, Nexiv VMZ-R, Nexiv VMZ-K (далее - комплексы) предназначены для автоматизированных измерений линейных и угловых размеров объектов и их элементов, а также их взаимного расположения в прямоугольн...