Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L200ND
| Номер в ГРСИ РФ: | 99434-26 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | Фирма "NIKON Corporation", Япония |
Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L200ND (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров функциональных нано- и микроструктур различной природы, а также получение изображений их внешнего вида.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Номер по Госреестру | 99434-26 | ||||||
| Наименование | Микроскоп оптический инспекционный | ||||||
| Модель | Eclipse L200ND | ||||||
| Приказы |
№1893 от
17.09.2026
— Об утверждении типов средств измерений
|
||||||
| Код идентификации производства |
ОС
СИ не соответствует критериям подтверждения производства на территории
РФ в соответствии с постановлением №719
|
||||||
| Характер производства | Единичное | ||||||
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | 8d45e3dc-28e9-a1a0-fab3-5283ad8b7f48 | ||||||
| Испытания |
|
||||||
Производитель / Заявитель
Nikon Corporation, ЯПОНИЯ, 6-15, Harushinmachi, Oitashi, Oita 870-0912
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке |
РТ-МП-620-203-2026 ГСИ. Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L200ND. Методика поверки
(с 17.09.2026)
|
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки |
1 год
|
| Зарегистрировано поверок |
Поверители
Скачать
|
99434-26: Описание типа
2026-99434-26.pdf
|
Скачать | 214.6 КБ | |
|
99434-26: Методика поверки
РТ-МП-620-203-2026
2026-mp99434-26.pdf
|
Скачать | 1.1 MБ |
Описание типа
Назначение
Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L200ND (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров функциональных нано- и микроструктур различной природы, а также получение изображений их внешнего вида.
Описание
Принцип действия микроскопа основан на измерении линейных размеров объекта, увеличенное изображение которого выводится на монитор подключенного персонального компьютера (далее - ПК) с помощью системы, состоящей из сменных объективов и цифровой камеры DS-Fi3. Объект изучения помещается на предметный стол под объектив, где он освещается с помощью встроенного источника света. Кратность увеличения микроскопа регулируется установкой объективов различного увеличения в рабочее положение с помощью устройства револьверного типа.
К средству измерений данного типа относится микроскоп оптический инспекционный Eclipse L200ND зав. № 522194.
Заводской номер в формате цифрового обозначения, состоящего из арабских цифр, нанесен на заднюю часть корпуса микроскопа методом печати на наклейке. Общий вид наклейки приведен на рисунке 1.
Возможность нанесения знака поверки на средство измерений отсутствует.
Пломбирование микроскопа от несанкционированного доступа не предусмотрено.
Общий вид микроскопа приведен на рисунке 2.
Рисунок 1 - Общий вид наклейки
Рисунок 2 - Общий вид Микроскопа оптического инспекционного Eclipse L200ND
Программное обеспечение
Микроскоп имеет программное обеспечение (далее - ПО), встроенное в аппаратное устройство операторского персонального компьютера, предназначенное для управления, передачи и обработки результатов измерений, идентификационные данные (признаки) метрологически значимой части ПО приведены в таблице 1. Вычислительные алгоритмы ПО расположены в заранее скомпилированных бинарных файлах и не могут быть модифицированы, они блокируют редактирование для пользователей и не позволяют удалять, создавать новые элементы или редактировать отчеты. ПО является неизменным. Средства для программирования или изменения метрологически значимых функций отсутствуют.
ПО соответствует среднему уровню защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений в соответствии с Р 50.2.077-2014.
Таблица 1 - Идентификационные данные ПО
|
Идентификационные данные (признаки) |
Значение |
|
Идентификационное наименование ПО |
NIS-Elements |
|
Номер версии (идентификационный номер) ПО, не ниже |
5.41.0 |
|
Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода) |
_ |
Технические характеристики
Таблица 2 - Метрологические характеристики
|
Наименование характеристики |
Значение |
|
Диапазон измерений линейных размеров, мкм - по оси X - по оси Y |
от 0,5 до 2400 от 0,5 до 1600 |
|
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров, мкм |
±(0,3+0,03Ъ), где L- измеренное значение длины в мкм |
Таблица 3 - Технические характеристики
|
Наименование характеристики |
Значение |
|
Максимальное разрешение, мкм |
0,40 |
|
Параметры электрического питания: - напряжение переменного тока, В - частота переменного тока, Гц - потребляемая мощность, Вт |
от 220 до 240 от 50 до 60 100 |
|
Габаритные размеры (длина х высота хширина), не более, мм |
829x645x810 |
|
Масса, кг, не более |
45 |
|
Условия эксплуатации: - диапазон температуры окружающего воздуха, °С; - диапазон относительной влажности воздуха, без конденсата, %, не более |
от +15 до +30 85 |
|
Ресурс источника света, ч, не менее |
1100 |
Знак утверждения типа
наносится на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.
Комплектность
Таблица 4 - Комплектность
|
Наименование |
Обозначение |
Количество |
|
Микроскоп оптический инспекционный |
Eclipse L200ND |
1 шт. |
|
ПК с предустановленным ПО |
- |
1 шт. |
|
Сменные объективы |
5х,10х,20х,50х,100х,150х |
6 шт. |
|
Технологическая инструкция |
Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L200ND / L200N |
1 экз. |
Сведения о методах измерений
приведены в разделе 8 «Микроскопия» Технологическая инструкция «Микроскоп оптический инспекционный Eclipse L200ND / L200N».
Нормативные документы
Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1-10-9 до 100 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм, утвержденная приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 29 декабря 2018 г. № 2840.