Оборудование в госреестре ЗАО "НИИИН МНПО "Спектр", г.Москва

Дефектоскопы вихретоковые ВД-90НП (далее по тексту - дефектоскопы) предназначены для измерений глубины поверхностных дефектов и для выявления поверхностных и подповерхностных дефектов типа нарушения сплошности материала по пороговому уровню чувствите...

Шаблоны специалиста неразрушающего контроля TapiRUS (далее - шаблоны) предназначены для измерений геометрических параметров сварных соединений и поверхностных дефектов при проведении входного неразрущающего контроля материалов и полуфабрикатов, контр...

Дефектоскопы вихретоковые ВД-41П (далее по тексту - дефектоскопы) предназначены для измерений глубины поверхностных дефектов при ручном и автоматизированном контроле изделий из ферромагнитных и немагнитных материалов.

Комплект мер толщины гальванических покрытий МТГП-1 (ВНС-25/Никель) (далее по тексту - меры) предназначен для воспроизведения размера толщины покрытия и используется для настройки толщиномеров покрытий.

Комплект мер толщины гальванических покрытий МТГП-1 (ВНС-25/Медь) (далее по тексту - меры) предназначен для воспроизведения размера толщины покрытия и используется для настройки толщиномеров покрытий.

Структуроскопы магнитные МС-10 (далее - структуроскопы) предназначены для измерений коэрцитивной силы магнитомягких ферромагнитных материалов и изделий из них.

Спектрометры портативные СКГ-1005 «МикроСпектр» (далее спектрометр) предназначены для:

Дозиметры ДВС-1004С (исполнения базовое, 01 и 02) (далее - дозиметр) предназначены для измерения индивидуального эквивалента дозы (ИЭД) и мощности индивидуального эквивалента дозы (МИЭД) ионизирующего излучения.