Дифрактометры в госреестре

Для проведения широкого спектра исследований в области рентгено-структурного анализа, для контроля производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозно-бумажной, фармацевтической промышленности, а также а...

Для измерения угловых положений дифракционных максимумов, для определения кристаллографической ориентации монокристаллических пластин, предназначенных для изготовления изделий электронной техники и их сортировки по углу среза.

Для измерения углов (угловых перемещений) блока детектирования и интенсивности дифракционных пиков, по которым определяются параметры кристаллической решетки, качественный и количественный фазовый состав веществ в лабораториях научно-исследовательски...

Для исследований структуры монокристаллов в условиях научно-исследовательских институтов, позволяют проводить прецизионный рентгеноструктурный анализ высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойств...

Для исследований структуры монокристаллов в условиях научно-исследовательских институтов, позволяют проводить прецизионный рентгеноструктурный анализ высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойств...

Для высокопроизводительного автоматизированного экспресс-анализа кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий и промышленных предприятий, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определяют кач...

Для исследования кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий, промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определяют качественный и...

Для измерения параметров кристаллических структур образцов в зависимости от внешних условий (механических напряжений) посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей по положениям максимумов интенсивности дифракционной картины, для применен...