Дифрактометры
Дифрактометры в госреестре
Для определения изменения параметров кристаллических структур образцов в зависимости от внешних условий (механических напряжений) посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей. Область применения - машиностроение, металлургическая, горнод...
35586-07
ДНР "Дифрей"
Дифрактометры настольные рентгеновские
ОАО "Научные приборы", РОССИЯ, г.С.-Петербург
Для измерения углового положения Брэгговских отражений дифракционной картины исследуемого поликристаллического образца с целью определения его фазового состава. Область применения: отрасли промышленности - горнодобывающие, химические, металлургически...
33868-07
KAPPA APEX
Дифрактометры рентгеновские монокристальные
Фирма "Bruker AXS Inc.", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Для измерения параметров структур высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения пре...
33867-07
X8PROSPECTOR
Дифрактометры рентгеновские монокристальные
Фирма "Bruker AXS Inc.", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Для измерения параметров структур высококачественных биологических кристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для пров...
33866-07
X8PROTEUM
Дифрактометры рентгеновские монокристальные
Фирма "Bruker AXS Inc.", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Для измерения параметров структур высококачественных биологических кристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для пров...
21687-07
Smart Apex
Дифрактометры рентгеновские монокристальные
Фирма "Bruker AXS Inc.", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Для измерения параметров структур высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения пре...
15687-07
X'Pert PRO MPD/MRD и Cubi'x XRD
Дифрактометры рентгеновские
Фирма "PANalytical B.V.", НИДЕРЛАНДЫ
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов в лабораториях промышленных предприятий, научно-ис...
21685-06
D8
Дифрактометры рентгеновские
Фирма "Bruker AXS GmbH", Германия;
Фирма "Bruker AXS Inc.", США
Для исследования кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий, промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определять качественный и...