Дифрактометры
Дифрактометры в госреестре
Дифрактометры рентгеновские портативные ДРП (далее по тексту - дифрактометры) предназначены для измерений угловых положений дифракционных пиков (максимумов), возникающих от воздействия направленного на анализируемый объект сфокусированного рентгеновс...
Дифрактометры рентгеновские ДРОН-7М предназначены для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
40594-14
ДРОН-8
Дифрактометры рентгеновские
АО "Инновационный центр "Буревестник", г.С.-Петербург;
НПП "Буревестник", ОАО, г.С.-Петербург (срок свидетельства: 22.07.2019 г.)
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов в лабораториях промышленных предприятий, учебных заведен...
53988-13
Xstress (мод. 3000 G2, Robot G2, 3000 G2R, Robot G2R, 3000 G3, Robot G3, 3000 G3R, Robot G3R, Robot)
Дифрактометры рентгеновские
Фирма "Stresstech OY", ФИНЛЯНДИЯ
50043-12
D8 VENTURE
Дифрактометры рентгеновские монокристальные
Фирма "Bruker AXS Inc.", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Дифрактометры рентгеновские монокристальные D8 VENTURE предназначены для измерения параметров структур монокристаллов с заданными свойствами, определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов.
50042-12
D8 QUEST
Дифрактометры рентгеновские монокристальные
Фирма "Bruker AXS Inc.", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Дифрактометры рентгеновские монокристальные D8 QUEST предназначены для измерения параметров структур монокристаллов с заданными свойствами, определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов.
Для регистрации дифракционных максимумов, измерения углов 2? и анализа дифракционных картин, получаемых в результате дифракции рентгеновских лучей на узлах кристаллической решетки. Основными задачами являются качественный и количественный фазовый ана...
Для измерения угловой зависимости интенсивности отражённого от вещества излучения для последующего вычисления значений параметров кристаллической решетки и оценки качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных.
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.