Микроскопы электронные сканирующие CS44 и MaXim 2000
Номер в ГРСИ РФ: | 16591-97 |
---|---|
Категория: | Микроскопы |
Производитель / заявитель: | Фирма "CamScan Analytical", Великобритания |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроскопы электронные сканирующие CS44 и MaXim 2000 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
В Госреестре описания нет.
Информация по Госреестру
Основные данные | |
---|---|
Номер по Госреестру | 16591-97 |
Наименование | Микроскопы электронные сканирующие |
Модель | CS44 и MaXim 2000 |
Класс СИ | 27.01 |
Год регистрации | 1997 |
Страна-производитель | Великобритания |
Центр сертификации СИ | |
Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИМ |
Адрес центра | 198005, г.С.-Петербург, Московский пр., 19 |
Руководитель центра | Ханов Николай Иванович |
Телефон | (8*812) 251-76-01 |
Факс | 113-01-14 |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | 01.10.2002 |
Номер сертификата | и1868 |
Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
Дата протокола | 12 от 09.09.97 п.75 |
Производитель / Заявитель
Фирма "CamScan Analytical", Великобритания
Великобритания
Поверка
Методика поверки / информация о поверке | МП ВНИИМ |
Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
Актуальность информации | 17.11.2024 |
Поверители
Другие Микроскопы
21102-01
TCM 50, TCM 100 и TCM 200 Микроскопы измерительные
Фирма "Brown & Sharpe TESA SA", Швейцария
Для измерения линейных и угловых размеров элементов различных деталей в прямоугольных координатах, для применения в измерительных лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.
Для измерения линейных и угловых размеров элементов различных деталей в прямоугольных координатах в измерительных лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.
Для измерения геометрических размеров частиц и волокон при микроскопическом анализе.
22102-01
Morgagni, Tecnai 12, Tecnai 20, Tecnai 30 Микроскопы электронные просвечивающие
Фирма "FEI Company/ Philips Electron Optics", Нидерланды
Для измерения линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов в биологии, физике твердого тела, материаловедении, геологии и других отраслях науки и техники.
Для прецизионного измерения наружных и внутренних линейных размеров и диаметров изделий в продольном и поперечном направлениях до 50 мм.