Дифрактометры рентгеновские монокристальные Smart Apex
| Номер в ГРСИ РФ: | 21687-07 |
|---|---|
| Категория: | Дифрактометры |
| Производитель / заявитель: | Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия |
Скачать
| 21687-07: Описание типа СИ | Скачать | 212.9 КБ |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Дифрактометры рентгеновские монокристальные Smart Apex поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для измерения параметров структур высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения прецизионного рентгеноструктурного анализа (методом рентгеновской дифракции) в аналитических лабораториях промышленного производства (химического, фармацевтического, нанотехнологии и др.), научно-исследовательских и учебных институтов.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 21687-07 |
| Наименование | Дифрактометры рентгеновские монокристальные |
| Модель | Smart Apex |
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 31.01 |
| Год регистрации | 2007 |
| Страна-производитель | США |
| Примечание | Взамен № 21687-01 |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ОАО ФНТЦ "Инверсия" |
| Адрес центра | 107031, г.Москва, ул.Рождественка, 27 |
| Руководитель центра | Пункевич Борис Семенович |
| Телефон | () |
| Факс | 208-49-62 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.03.2012 |
| Номер сертификата | 26755 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 02 от 15.02.07 п.140 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Bruker AXS Inc.", США
США
5465 East Cheryl Parkway, MADISON, Wi 53711, USA
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП ГНТЦ "Инверсия" |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Актуальность информации | 24.11.2024 |
Поверители
Скачать
| 21687-07: Описание типа СИ | Скачать | 212.9 КБ |
Другие Дифрактометры
Для исследований структуры монокристаллов в условиях научно-исследовательских институтов, позволяют проводить прецизионный рентгеноструктурный анализ высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойств...
23118-02
Спектроскан-МД Мини-дифрактометры рентгеновские безгониометрические с позиционно-чувствительным детектором
ООО "НПО "Спектрон", г.С.-Петербург
Для измерения углов (угловых перемещений) блока детектирования и интенсивности дифракционных пиков, по которым определяются параметры кристаллической решетки, качественный и количественный фазовый состав веществ в лабораториях научно-исследовательски...
Для измерения угловых положений дифракционных максимумов, для определения кристаллографической ориентации монокристаллических пластин, предназначенных для изготовления изделий электронной техники и их сортировки по углу среза.
Для проведения широкого спектра исследований в области рентгено-структурного анализа, для контроля производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозно-бумажной, фармацевтической промышленности, а также а...
Для проведения широкого спектра исследований в области рентгеноструктурного анализа. Область применения - контроль производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозо-бумажной, фармацевтической промышленн...