Дифрактометры рентгеновские монокристаллические P4
Номер в ГРСИ РФ: | 21688-01 |
---|---|
Категория: | Дифрактометры |
Производитель / заявитель: | Фирма "Bruker Optik GmbH", Германия |
Скачать
21688-01: Описание типа СИ | Скачать | 178.9 КБ |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Дифрактометры рентгеновские монокристаллические P4 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для исследований структуры монокристаллов в условиях научно-исследовательских институтов, позволяют проводить прецизионный рентгеноструктурный анализ высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами, определяют форму и структуру элементарной ячейки кристаллов с уточнением позиций атомов.
Информация по Госреестру
Основные данные | |
---|---|
Номер по Госреестру | 21688-01 |
Наименование | Дифрактометры рентгеновские монокристаллические |
Модель | P4 |
Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
Класс СИ | 31.02 |
Год регистрации | 2001 |
Страна-производитель | Германия |
Центр сертификации СИ | |
Наименование центра | ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ" |
Адрес центра | 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1 |
Руководитель центра | Тодуа Павел Андреевич |
Телефон | (8*095) 935-97-77 |
Факс | 132-60-13 |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | 01.07.2006 |
Номер сертификата | 10601 |
Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
Дата протокола | 10 от 26.06.01 п.221 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Bruker AXS GmbH", Германия
Германия
Ostliche Rheinbruckerstr.50 D-76187 Karlsruhe Germany, тел.+49 721 595 2888, факс +49 721 595 4587
Поверка
Методика поверки / информация о поверке | МП НИЦПВ |
Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
Актуальность информации | 03.11.2024 |
Поверители
Скачать
21688-01: Описание типа СИ | Скачать | 178.9 КБ |
Другие Дифрактометры
23118-02
Спектроскан-МД Мини-дифрактометры рентгеновские безгониометрические с позиционно-чувствительным детектором
ООО "НПО "Спектрон", г.С.-Петербург
Для измерения углов (угловых перемещений) блока детектирования и интенсивности дифракционных пиков, по которым определяются параметры кристаллической решетки, качественный и количественный фазовый состав веществ в лабораториях научно-исследовательски...
Для измерения угловых положений дифракционных максимумов, для определения кристаллографической ориентации монокристаллических пластин, предназначенных для изготовления изделий электронной техники и их сортировки по углу среза.
Для проведения широкого спектра исследований в области рентгено-структурного анализа, для контроля производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозно-бумажной, фармацевтической промышленности, а также а...
Для проведения широкого спектра исследований в области рентгеноструктурного анализа. Область применения - контроль производства и качества продукции в металлургической, электротехнической, керамической, целлюлозо-бумажной, фармацевтической промышленн...
Для измерения углового положения линий дифракционного спектра исследуемого образца на промышленных предприятиях, в научно-исследовательских институтах, геологоразведке, криминалистике, фармакологии, обеспечении учебного процесса в ВУЗах.