Микроскопы электронные растровые с системой энергодисперсионного микроанализа РЭМ-106И

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 30156-05
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: ОАО "SELMI", Украина, г.Сумы
Микроскопы электронные растровые с системой энергодисперсионного микроанализа РЭМ-106И поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерений линейных размеров элементов топологии и параметров микрорельефа поверхности различных объектов в твердой фазе и измерений массовой доли элементов в составе объектов методом рентгеновского микроанализа в режимах высокого вакуума и низкого вакуума без специальной подготовки непроводящих объектов, применяются в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, металлургии, геологии, биологии, медицине, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.

Скачать

30156-05: Описание типа СИ Скачать 234.7 КБ

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 30156-05
Наименование Микроскопы электронные растровые с системой энергодисперсионного микроанализа
Модель РЭМ-106И
Технические условия на выпуск ТУ У 33.2-04799336-023-2005
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2005
Методика поверки / информация о поверке приложение к РЭ НИЦПВ
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Страна-производитель  Украина 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес центра 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель центра Тодуа Павел Андреевич
Телефон (8*095) 935-97-77
Факс 132-60-13
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 01.11.2010
Номер сертификата 21991
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 14 от 13.10.05 п.54
Производитель / Заявитель

ОАО "SELMI", Украина, г.Сумы

 Украина 

40009, ул.Комсомольская, 68-А, тел. (0542) 210-243, Тел/Факс: +3 8(0542) 22-14-14, E-mail: info@selmi.sumy.ua

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
2996-72
БИМ Микроскопы инструментальные бинокулярные
Приборостроительный завод, г.Новосибирск
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Default ALL-Pribors Device Photo
28666-05
Solver Pro Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Default ALL-Pribors Device Photo
28665-05
NanoEducator Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред, применяют в учебном процессе для изучения основ сканирующей зондовой микроскопии и проведения исследований в области нанотехнологии, микромеханики, физики...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...