Микроскопы электронные растровые с системой энергодисперсионного микроанализа РЭМ-106И
| Номер в ГРСИ РФ: | 30156-05 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | ОАО "SELMI", Украина, г.Сумы |
Микроскопы электронные растровые с системой энергодисперсионного микроанализа РЭМ-106И поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для измерений линейных размеров элементов топологии и параметров микрорельефа поверхности различных объектов в твердой фазе и измерений массовой доли элементов в составе объектов методом рентгеновского микроанализа в режимах высокого вакуума и низкого вакуума без специальной подготовки непроводящих объектов, применяются в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, металлургии, геологии, биологии, медицине, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.
Скачать
| 30156-05: Описание типа СИ | Скачать | 234.7 КБ |
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 30156-05 |
| Наименование | Микроскопы электронные растровые с системой энергодисперсионного микроанализа |
| Модель | РЭМ-106И |
| Технические условия на выпуск | ТУ У 33.2-04799336-023-2005 |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2005 |
| Методика поверки / информация о поверке | приложение к РЭ НИЦПВ |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Страна-производитель | Украина |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ" |
| Адрес центра | 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1 |
| Руководитель центра | Тодуа Павел Андреевич |
| Телефон | (8*095) 935-97-77 |
| Факс | 132-60-13 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.11.2010 |
| Номер сертификата | 21991 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 14 от 13.10.05 п.54 |
Производитель / Заявитель
ОАО "SELMI", Украина, г.Сумы
Украина
40009, ул.Комсомольская, 68-А, тел. (0542) 210-243, Тел/Факс: +3 8(0542) 22-14-14, E-mail: info@selmi.sumy.ua
Другие Микроскопы
28666-10
Solver HV, Solver HV-MFM, Solver SNOM, Smena, Solver PRO, Solver PRO-M, Solver FD, Solver P47-PRO, Solver PRO-EC, Solver MFM, Solver BIO-M, Solver OPEN Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред, применяют в учебном процессе для изучения основ сканирующей зондовой микроскопии и проведения исследований в области нанотехнологии, микромеханики, физики...
28664-10
Ntegra SPECTRA, Ntegra PRIMA, Ntegra VITA, Ntegra THERMA, Ntegra AURA, Ntegra MAXIMUS, Ntegra SOLARIS, Ntegra SOLARIS Duo, Ntegra TOMO, Ntegra LIFE Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...