Микроскопы инструментальные ИМЦ 150х50 Б
| Номер в ГРСИ РФ: | 4184-83 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | АО "Новосибирский приборостроительный завод" (НПЗ), г. Новосибирск |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроскопы инструментальные ИМЦ 150х50 Б поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 4184-83 |
| Наименование | Микроскопы инструментальные |
| Модель | ИМЦ 150х50 Б |
| Срок свидетельства (Или заводской номер) | *) |
Производитель / Заявитель
Приборостроительный завод, г.Новосибирск
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
| Зарегистрировано поверок | 944 |
| Найдено поверителей | 85 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 899 (95%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 45 (5%) |
| Актуальность информации | 03.11.2024 |
Поверители
Другие Микроскопы
Микроскоп электронный растровый JSM-6490LV (далее по тексту - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа твердых структур.
63408-16
МИМ-340 Микроскопы лазерные МИМ с длинноходовыми предметными столами
АО "ПО "Уральский оптико-механический завод им.Э.С.Яламова" (УОМЗ), г.Екатеринбург
Микроскопы лазерные МИМ с длинноходовыми предметными столами МИМ-340 (далее по тексту - микроскопы МИМ), предназначены для трехмерного анализа рельефа отражающей поверхности в микро- и нанодиапазоне, создания графических изображений и их цифрового ан...
Микроскопы измерительные Nikon MM (далее по тексту - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей.
Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров в нано- и микрометровом диапазонах и анализа поверхностей объектов.
64047-16
SOLVER NEXT, TITANIUM Микроскопы сканирующие зондовые
ООО "Научно-техническая компания" (НТК), г.Химки
Микроскопы сканирующие зондовые SOLVER NEXT, TITANIUM (далее C3M) предназначены для измерений геометрических параметров микрорельефа поверхности твёрдых тел.