Стойки счетные для дифрактометра ССД
| Номер в ГРСИ РФ: | 4341-74 |
|---|---|
| Категория: | Дифрактометры |
| Производитель / заявитель: | - |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Стойки счетные для дифрактометра ССД поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 4341-74 |
| Наименование | Стойки счетные для дифрактометра |
| Модель | ССД |
| Класс СИ | 37 |
| Год регистрации | 1990 |
| Страна-производитель | СССР |
| Примечание | Исключен в 1990 г. |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | - |
| Телефон | () |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | нет |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 03 от 10.04.90 п.03 |
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
| Зарегистрировано поверок | 4 |
| Найдено поверителей | 1 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 4 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
| Актуальность информации | 22.12.2024 |
Поверители
Другие Дифрактометры
Для измерения углового распределения интенсивности отраженного пучка рентгеновских лучей. Назначения: определение угловой позиции максимумов (в упрощенных вариантах обработки данных - центров тяжести) дифракционных отражений (Брэгговских отражений),...
Для измерения углового распределения интенсивности отраженного пучка рентгеновских лучей. Назначения: - определение угловой позиции максимумов (в упрощенных вариантах обработки данных - центров тяжести) дифракционных отражений (Брэгговских отражений)...
Для регистрации и анализа дифракционных картин путем измерения углов, получаемых в результате интерференции рентгеновских лучей, рассеянных электронами атомов облучаемых образцов. Основными задачами, выполняемыми с применением дифрактометра являются...
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.