44570-10: OLYMPUS GX71F Микроскоп инвертированный оптический - Производители, поставщики и поверители

Микроскоп инвертированный оптический OLYMPUS GX71F

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 44570-10
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Компания "Olympus NDT, Inc.", США
Скачать
44570-10: Описание типа СИ Скачать 143.3 КБ
Нет данных о поставщике
Микроскоп инвертированный оптический OLYMPUS GX71F поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 44570-10
Наименование Микроскоп инвертированный оптический
Модель OLYMPUS GX71F
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2010
Страна-производитель  Япония 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ СНИИМ
Адрес центра 630004, г.Новосибирск, пр.Димитрова, 4
Руководитель центра Черепанов Виктор Яковлевич
Телефон (8*383*2) 10-08-14
Факс 10-13-60
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 40059
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола 01д3 от 25.03.10 п.172
Производитель / Заявитель

Фирма "OLYMPUS Co.", Япония

 Япония 

Shinjuku Monolith, 3-1, Nishi Shinjuku 2-chome, Shinjuku-ku, Tokyo, Japan

Поверка

Методика поверки / информация о поверке ТГУ44.3100 МП
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 2 года
Зарегистрировано поверок 29
Найдено поверителей 14
Успешных поверок (СИ пригодно) 29 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 03.11.2024

Поверители

Скачать

44570-10: Описание типа СИ Скачать 143.3 КБ

Описание типа

Назначение

Инвертированный оптический микроскоп OLYMPUS GX71F (далее - Микроскоп) предназначен для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.

Описание

Принцип работы Микроскопа основан на бесконтактном методе измерений поперечного размера изображения объекта контроля, создаваемого объективом с помощью цифровой камеры DP72, и выводе результатов измерений на экран монитора персонального компьютера.

Микроскоп представляет собой модульную конструкцию, позволяющую скомбинировать модификацию, необходимую для решения конкретных задач. На микроскопе установлен промежуточный блок изменения увеличения 1Х-2Х. Основание Микроскопа Т- образной формы, с виброзащитными опорами.

Метод обзора - светлое поле (BF), темное поле (DF), поляризованный свет (PL), дифференциально-интерференционный контраст (DIC), флуоресценция (FL).

Технические характеристики

Диапазон измерений, мкм                                    от 2 до 1000

Диапазон перемещений предметного стола по 2 координатам, мм 0-50

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений, мкм, в диапазоне:

- от 2 до 100 мкм

- Ют 100 до 200 мкм

- от 200 до 500 мкм

- от 500 до 1000 мкм

Предел среднего квадратического отклонения, мкм, в диапазоне:

- от 2 до 100 мкм

- от 100 до 200 мкм

- от 200 до 500 мкм

- от 500 до 1000 мкм

Г абаритные размеры, мм                                      748x280x45 5,3

всего листов 3

Масса, кг

39

(20 ± 5)

(бо :23°)

(100^)

6

5х, 10х, 20х, 50х, 100х

от 50 до 2000

Рабочие условия эксплуатации - закрытые отапливаемые помещения по гр. В1 ГОСТ Р 52931 со следующим уточнением: - температура окружающего воздуха, °C - относительная влажность, %

- атмосферное давление, кПа

Средний срок службы, не менее, лет

Увеличение объективов, крат

Диапазон увеличений Микроскопа, крат

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа средств измерений нанесён на специальную табличку на задней панели Микроскопа методом штемпелевания и на титульный лист руководства по эксплуатации - типографским способом.

Комплектность

Обозначение

Наименование

Количество

Заводской номер

Примечание

Микроскоп

1

3D09095

GX71

Столик предметный

2

GX-SFR, GX-SVR

Револьвер объективов

1

-

На 5 объективов

Источник света

4

100 Вт - галогеновая, 100 Вт-Hg, 75Вт-Хе, 50 Вт - галоидные лампы

Тубус окулярный

1

Окуляры: U-SWBI30, U-SWTR-2

Блок питания встроенный

1

12 В, 100 Вт

Диафрагма

2

Полевая и апертурная

Порт вывода

1

Фронтальный порт

Насадка фотомикрографическая измерительная

1

цифровая камера DP72

Персональный компьтер (ПК)

1

ТГУ44.3100РЭ

Руководство по эксплуатации

1

На русском языке

ТГУ44.3100МП

Методика поверки

1

Поверка

Поверку Микроскопа осуществляют в соответствии с документом ТГУ44.3100 МП «Микроскопы инвертированные оптические OLYMPUS GX71F. Методика поверки», утверждённым ФГУП «СНИИМ» в феврале 2010 г.

В перечень основного поверочного оборудования входит объект-микрометр эталонный Olympus N 2031 (ГОСРЕЕСТР СИ N 41515-09)

Межповерочный интервал - 2 года.

Нормативные документы

МИ 2060-90 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне 1х10'64>0м

МИ 2270-93 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в диапазоне 0,1-40,0 мкм Документация фирмы-изготовителя

Заключение

Тип «Микроскоп инвертированный оптический OLYMPUS GX71F», заводской номер 3D09095 утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен в эксплуатации согласно государственным поверочным схемам.

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений глубины рельефа поверхности отражающих объектов. Область применения - в машиностроении, приборостроении и лабораториях научно-исследовательских институтов, занимающихся вопросами оценки и измерения параметров микрорельефа поверхности.
Default ALL-Pribors Device Photo
Универсальный (многоцелевой) прибор для трёхмерного анализа микрорельефа отражающей поверхности, создаёт графические изображения и проводит их цифровой анализ с целью получения высокоточных данных о структуре поверхности исследуемого объекта. Область...
Default ALL-Pribors Device Photo
44846-10
Z200 Микроскопы измерительные универсальные
ООО "МЦ "Мастер-Сервис", г.С.-Петербург
Для измерений линейных и угловых размеров различных изделий (резьбовых изделий, режущего инструмента, профильных шаблонов, лекал, кулачков, конусов, метчиков, резьбонарезных гребенок, диаметров сквозных отверстий и др) в прямоугольных и полярных коор...
Default ALL-Pribors Device Photo
44967-10
NVision 40 Микроскоп растровый электронный
Фирма "Carl Zeiss, Inc.", Германия
Для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур. Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, металлургии, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследоват...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком. Микроскоп может применяться при проведения научных...