Микроскоп инвертированный оптический OLYMPUS GX71F

Для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.

Скачать

44570-10: Описание типа СИ Скачать 143.3 КБ

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 44570-10
Наименование Микроскоп инвертированный оптический
Модель OLYMPUS GX71F
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2010
Методика поверки / информация о поверке ТГУ44.3100 МП
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 2 года
Страна-производитель  Япония 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ СНИИМ
Адрес центра 630004, г.Новосибирск, пр.Димитрова, 4
Руководитель центра Черепанов Виктор Яковлевич
Телефон (8*383*2) 10-08-14
Факс 10-13-60
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 40059
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола 01д3 от 25.03.10 п.172
Производитель / Заявитель

Фирма "OLYMPUS Co.", Япония

 Япония 

Shinjuku Monolith, 3-1, Nishi Shinjuku 2-chome, Shinjuku-ku, Tokyo, Japan

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений глубины рельефа поверхности отражающих объектов. Область применения - в машиностроении, приборостроении и лабораториях научно-исследовательских институтов, занимающихся вопросами оценки и измерения параметров микрорельефа поверхности.
Default ALL-Pribors Device Photo
Универсальный (многоцелевой) прибор для трёхмерного анализа микрорельефа отражающей поверхности, создаёт графические изображения и проводит их цифровой анализ с целью получения высокоточных данных о структуре поверхности исследуемого объекта. Область...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения массовых долей элементов в микрообъеме различных материалов: металлов, сплавов, порошков, стружек, геологических пород и т. д., в диапазоне измерений 0,2...100,0 %. Может анализировать любой материал, не разрушающийся в вакууме, измеряя...
Default ALL-Pribors Device Photo
44846-10
Z200 Микроскопы измерительные универсальные
ООО "МЦ "Мастер-Сервис", г.С.-Петербург
Для измерений линейных и угловых размеров различных изделий (резьбовых изделий, режущего инструмента, профильных шаблонов, лекал, кулачков, конусов, метчиков, резьбонарезных гребенок, диаметров сквозных отверстий и др) в прямоугольных и полярных коор...
Default ALL-Pribors Device Photo
44967-10
NVision 40 Микроскоп растровый электронный
Фирма "Carl Zeiss, Inc.", Германия
Для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур. Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, металлургии, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследоват...