Микроскоп инвертированный оптический OLYMPUS GX71F
Номер в ГРСИ РФ: | 44570-10 |
---|---|
Категория: | Микроскопы |
Производитель / заявитель: | Компания "Olympus NDT, Inc.", США |
44570-10: Описание типа СИ | Скачать | 143.3 КБ |
Для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.
Информация по Госреестру
Основные данные | |
---|---|
Номер по Госреестру | 44570-10 |
Наименование | Микроскоп инвертированный оптический |
Модель | OLYMPUS GX71F |
Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
Класс СИ | 27.01 |
Год регистрации | 2010 |
Страна-производитель | Япония |
Центр сертификации СИ | |
Наименование центра | ГЦИ СИ СНИИМ |
Адрес центра | 630004, г.Новосибирск, пр.Димитрова, 4 |
Руководитель центра | Черепанов Виктор Яковлевич |
Телефон | (8*383*2) 10-08-14 |
Факс | 10-13-60 |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | . . |
Номер сертификата | 40059 |
Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
Дата протокола | 01д3 от 25.03.10 п.172 |
Производитель / Заявитель
Фирма "OLYMPUS Co.", Япония
Япония
Shinjuku Monolith, 3-1, Nishi Shinjuku 2-chome, Shinjuku-ku, Tokyo, Japan
Поверка
Методика поверки / информация о поверке | ТГУ44.3100 МП |
Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 2 года |
Зарегистрировано поверок | 29 |
Найдено поверителей | 14 |
Успешных поверок (СИ пригодно) | 29 (100%) |
Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
Актуальность информации | 03.11.2024 |
Поверители
Скачать
44570-10: Описание типа СИ | Скачать | 143.3 КБ |
Описание типа
Назначение
Инвертированный оптический микроскоп OLYMPUS GX71F (далее - Микроскоп) предназначен для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.
Описание
Принцип работы Микроскопа основан на бесконтактном методе измерений поперечного размера изображения объекта контроля, создаваемого объективом с помощью цифровой камеры DP72, и выводе результатов измерений на экран монитора персонального компьютера.
Микроскоп представляет собой модульную конструкцию, позволяющую скомбинировать модификацию, необходимую для решения конкретных задач. На микроскопе установлен промежуточный блок изменения увеличения 1Х-2Х. Основание Микроскопа Т- образной формы, с виброзащитными опорами.
Метод обзора - светлое поле (BF), темное поле (DF), поляризованный свет (PL), дифференциально-интерференционный контраст (DIC), флуоресценция (FL).
Технические характеристики
Диапазон измерений, мкм от 2 до 1000
Диапазон перемещений предметного стола по 2 координатам, мм 0-50
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений, мкм, в диапазоне:
- от 2 до 100 мкм
- Ют 100 до 200 мкм
- от 200 до 500 мкм
- от 500 до 1000 мкм
Предел среднего квадратического отклонения, мкм, в диапазоне:
- от 2 до 100 мкм
- от 100 до 200 мкм
- от 200 до 500 мкм
- от 500 до 1000 мкм
Г абаритные размеры, мм 748x280x45 5,3
всего листов 3
Масса, кг
39
(20 ± 5)
(бо :23°)
(100^)
6
5х, 10х, 20х, 50х, 100х
от 50 до 2000
Рабочие условия эксплуатации - закрытые отапливаемые помещения по гр. В1 ГОСТ Р 52931 со следующим уточнением: - температура окружающего воздуха, °C - относительная влажность, %
- атмосферное давление, кПа
Средний срок службы, не менее, лет
Увеличение объективов, крат
Диапазон увеличений Микроскопа, крат
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа средств измерений нанесён на специальную табличку на задней панели Микроскопа методом штемпелевания и на титульный лист руководства по эксплуатации - типографским способом.
Комплектность
Обозначение |
Наименование |
Количество |
Заводской номер |
Примечание |
Микроскоп |
1 |
3D09095 |
GX71 | |
Столик предметный |
2 |
GX-SFR, GX-SVR | ||
Револьвер объективов |
1 |
- |
На 5 объективов | |
Источник света |
4 |
100 Вт - галогеновая, 100 Вт-Hg, 75Вт-Хе, 50 Вт - галоидные лампы | ||
Тубус окулярный |
1 |
Окуляры: U-SWBI30, U-SWTR-2 | ||
Блок питания встроенный |
1 |
12 В, 100 Вт | ||
Диафрагма |
2 |
Полевая и апертурная | ||
Порт вывода |
1 |
Фронтальный порт | ||
Насадка фотомикрографическая измерительная |
1 |
цифровая камера DP72 | ||
Персональный компьтер (ПК) |
1 | |||
ТГУ44.3100РЭ |
Руководство по эксплуатации |
1 |
На русском языке | |
ТГУ44.3100МП |
Методика поверки |
1 |
Поверка
Поверку Микроскопа осуществляют в соответствии с документом ТГУ44.3100 МП «Микроскопы инвертированные оптические OLYMPUS GX71F. Методика поверки», утверждённым ФГУП «СНИИМ» в феврале 2010 г.
В перечень основного поверочного оборудования входит объект-микрометр эталонный Olympus N 2031 (ГОСРЕЕСТР СИ N 41515-09)
Межповерочный интервал - 2 года.
Нормативные документы
МИ 2060-90 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне 1х10'64>0м
МИ 2270-93 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в диапазоне 0,1-40,0 мкм Документация фирмы-изготовителя
Заключение
Тип «Микроскоп инвертированный оптический OLYMPUS GX71F», заводской номер 3D09095 утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен в эксплуатации согласно государственным поверочным схемам.