66804-17: FILMTEK 2000 PAR-SE Эллипсометр - Производители, поставщики и поверители

Эллипсометр FILMTEK 2000 PAR-SE

Номер в ГРСИ РФ: 66804-17
Категория: Эллипсометры
Производитель / заявитель: Фирма "Scientific Computing International", США
Скачать
66804-17: Описание типа СИ Скачать 129.4 КБ
66804-17: Методика поверки МП 059.М44-16 Скачать 1.4 MБ
Нет данных о поставщике
Эллипсометр FILMTEK 2000 PAR-SE поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Эллипсометр FilmTek 2000 PAR-SЕ (далее по тексту - эллипсометр) предназначен для измерения оптических характеристик (эллипсометрические углы Пси и Дельта) полупрозрачных пленок (полупроводниковые, диэлектрические, электрооптические, SOI или SOS материалы; многослойные, оптические антиотражающие покрытия; тонкие металлы; материалы планарных волноводов; стекло с покрытием; многослойные тонкопленочные структуры).

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 66804-17
Наименование Эллипсометр
Модель FILMTEK 2000 PAR-SE
Срок свидетельства (Или заводской номер) зав.№ 140917
Производитель / Заявитель

Фирма "Scientific Computing International", США

Поверка

Зарегистрировано поверок 4
Найдено поверителей 1
Успешных поверок (СИ пригодно) 3 (75%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 1 (25%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

66804-17: Описание типа СИ Скачать 129.4 КБ
66804-17: Методика поверки МП 059.М44-16 Скачать 1.4 MБ

Описание типа

Назначение

Эллипсометр FilmTek 2000 PAR-SE (далее по тексту - эллипсометр) предназначен для измерения оптических характеристик (эллипсометрические углы Пси и Дельта) полупрозрачных пленок (полупроводниковые, диэлектрические, электрооптические, SOI или SOS материалы; многослойные, оптические антиотражающие покрытия; тонкие металлы; материалы планарных волноводов; стекло с покрытием; многослойные тонкопленочные структуры).

Описание

Принцип действия эллипсометра основан на комбинировании двух методов исследования тонких пленок - спектральной эллипсометрии с вращающимся компенсатором и многоракурсной поляризационной рефлектометрии. Оба метода рефлектометрия и эллипсометрия основаны на регистрации изменений параметров света, прошедшего или отраженного от исследуемого объекта. В методе рефлектометрии регистрируются изменения интенсивности отраженного света, а в методе эллипсометрии - изменения поляризационных параметров света, которые называются эллипсометрическими углами Пси и Дельта.

В эллипсометре сбор данных проводится по трем измерительным каналам:

- рефлектометрия (спектрофотометрия) при нормальном падении света на объект;

- рефлектометрия поляризованного света при отражении под углом 70 градусов;

- спектральная эллипсометрия под углом 70 градусов.

В состав средства измерений входят спектральный эллипсометр, источник света Hamamatsu L10290 с размером пятна от 25 до 300 мкм (при нормальном падении) и 2 мм (при падении под углом 70°), приборный столик с тефлоновым покрытием, цифровая камера CCD STC-620CC, роботизированная система загрузки пластин Brooks с автофокусировкой, 6 встроенных калибровочных эллипсометрических пластин (сер.№ 1 - 6), фильтровентиляционный модуль типа HEPA, 8’’ SMIF порт, ПК с многоядерным процессором и операционной системой Windows 7 ™.

Общий вид автоматизированного аппаратного оборудования эллипсометра представлен на рисунке 1.

1

3

4

2

Рисунок 1 - Общий вид автоматизированного аппаратного оборудования эллипсометра FILMTEK 2000 PAR-SE: 1 - Рефлектометр PAR нормального освещения объекта, 2 - плечо освещения объекта под углом 70°, 3 - плечо регистрации излучения, отраженного от объекта под углом 70 °, 4 - видеокамера с регулировкой увеличения для наблюдения области измерения объекта

Схема пломбировки от несанкционированного доступа, маркировка и обозначение места нанесения знака поверки представлены на рисунке 2.

1

2

3

Рисунок 2 - Внешний вид оборудования эллипсометра FILMTEK 2000 PAR-SE: 1 - место нанесения знака поверки, 2 - маркировка, 3 - пломбировка от несанкционированного доступа

Программное обеспечение

Управление процессом измерения в эллипсометре осуществляется с помощью специального программного обеспечения Film Tek SE. Программное обеспечение служит для настройки эллипсометра, проведения измерений, включая визуальный анализ экспериментальных данных, анализ и обработку полученных данных.

ПО имеет пользовательский интерфейс, ввод данных производится с помощью клавиатуры и мыши на персональном компьютере.

Программное обеспечение (ПО) имеет следующие идентификационные данные:

Таблица 1

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

Film Tek SE

Номер версии (идентификационный номер) ПО

87.3.3 и выше

Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода)

-

Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО

-

Программное обеспечение устанавливается в определенную директорию жесткого диска персонального компьютера. Несанкционированный доступ к программному обеспечению исключён посредством ограничения прав учетной записи пользователя, а также наличием пароля.

Установка обновленных версий ПО допускается только представителями предприятия-изготовителя с помощью специального оборудования.

Защита программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «средний» согласно Р 50.2.077-2014.

Технические характеристики

приведены в таблице 2.

Таблица 2

Наименование характеристики

Значение характеристики

Метрологические характеристики

Диапазон измерения величины эллипсометрических углов, градус:

-Пси

-Дельта

от 0 до 90

от 0 до 360

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения величин эллипсометрических углов, градус:

-Пси

-Дельта

±0,2

±0,3

Технические характеристики

Спектральный диапазон показаний, нм

от 200 до 1700

Диапазон показаний толщин, мкм

от 0,0001 до 150

Габаритные размеры, мм, не более

1651x1397x1854

Электропитание осуществляется от сети переменного тока с напряжением, В частотой, Гц

От 210 до 230 50/60

Потребляемая мощность, кВт, не более

2,2

Условия эксплуатации:

Температура окружающей среды, °С

Относительная влажность, не более %

от +15 до +35

80

Знак утверждения типа

наносится типографским способом на титульный лист Руководства по эксплуатации и на корпус прибора методом наклеивания.

Комплектность

Таблица 3

Наименование

Количество, шт

Эллипсометр FilmTek 2000 Par-SE зав. N 140917 в составе: -Спектральный эллипсометр (RCE) (70°, 380 нм-900 нм) -Источник света Hamamatsu L10290

- Приборный столик с тефлоновым покрытием

- Цифровая камера CCD STC-620CC

- Роботизированная система загрузки пластин Brooks

- Фильтро-вентиляционный модуль (ФВМ) типа HEPA

- 8’’ SMIF порт

1

Встраиваемые калибровочные эллипсометрические пластины: - сер.№ 1, толщина оксидной пленки 11 А,

- сер.№ 2, толщина оксидной пленки 140 А,

- сер. № 3, толщина оксидной пленки 250 А,

- сер. № 4, толщина оксидной пленки 620 А,

- сер. № 5, толщина оксидной пленки 1000 А,

- сер. № 6, толщина оксидной пленки 3000 А.

6

Персональный компьютер

1

Методика поверки

1

Руководство по эксплуатации

1

Поверка

осуществляется по документу МП 059.М44-16 «Государственная система обеспечения единства измерений Эллипсометр FilmTek 2000PAR-SE. Методика поверки», утвержденному ФГУП «ВНИИОФИ» 28 декабря 2016 г.

Основные средства поверки:

Государственный рабочий эталон 2-го разряда единиц эллипсометрических углов в диапазоне от 0 до 360° по углу Дельта и от 0 до 90° по углу Пси согласно ГОСТ 8.605-2011.

Таблица 4 - Основные метрологические характеристики

Тип и серийный номер пластины

Значение эллипсометрических углов на длине волны 632.6 нм, градус

Пси

Дельта

L118SW-100, №1108-4ECS

11.60

149.52

L118SW-2000, №1108-21ECS

29.40

274.96

Расширенная неопределенность измерений угла Пси - 0,05 градус.

Расширенная неопределенность измерений угла Дельта - 0,08 градус.

Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью.

Знак поверки наносится на свидетельство о поверке в виде наклейки или оттиска поверительного клейма.

Сведения о методах измерений

приведены в эксплуатационном документе.

Нормативные документы

1 ГОСТ 8.605-2011 «Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ).

Государственная поверочная схема для средств измерений эллипсометрических углов»

2 Техническая документация фирмы «Scientific Computing International», США

Другие Эллипсометры

Меры пространственного распределения эллипсометрических углов OptiReader™ (далее - меры) предназначены для воспроизведения эллипсометрических углов Пси у и Дельта А при калибровке и поверке средств измерений пространственного распределения толщины пл...
78495-20
OptiReader™ Эллипсометры спектральные
Фирма "Petroleum Analyzer Company, L.P.", США
Эллипсометры спектральные OptiReader™ (далее - эллипсометры) предназначены для бесконтактных автоматизированных измерений толщины оптических покрытий, образующихся на нагревательных трубках в процессе взаимодействия жидкого топлива для газотурбинных...
Default ALL-Pribors Device Photo
43467-09
APECS 3000 Эллипсометр спектральный
Фирма "Leica Microsystems Wetzlar GmbH", Германия
Для автоматизированного контроля толщин технологических слоев в процессе производства, а также оптических параметров слоев, зависящих от толщины, таких, как коэффициенты отражения, поглощения, преломления. Мощные возможности обработки и вычисления из...
Default ALL-Pribors Device Photo
11648-88
ЛЭФ-3М-1 Эллипсометры
Приборостроительный завод, Украина, г.Феодосия
Для измерения изменений в состоянии поляризации на поверхности исследуемого образца. Исследования в области физики поверхностей в промышленности, научно-исследовательских организациях.
Default ALL-Pribors Device Photo
11332-88
ПС-5 Пластины образцовые эллипсометрические
АООТ "Загорский оптико-механический завод" (ЗОМЗ), г.Сергиев Посад
Для поверки полярископов-поляриметров ПКС-250, ПКС250М.