Микроскопы фотоэлектрические ФЭМ-1Ц
| Номер в ГРСИ РФ: | 6849-78 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | АО "Новосибирский приборостроительный завод" (НПЗ), г. Новосибирск |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Поверка
Микроскопы фотоэлектрические ФЭМ-1Ц поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Для измерения отклонений положения штрихов при сравнительных измерениях шкал
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 6849-78 |
| Наименование | Микроскопы фотоэлектрические |
| Модель | ФЭМ-1Ц |
| Код идентификации производства |
ОС
СИ не соответствует критериям подтверждения производства на территории
РФ в соответствии с постановлением №719
|
| Характер производства | Серийное |
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | e1c092e4-1888-5f72-bdc7-796e079f7d78 |
| Год регистрации | 1978 |
Информация устарела
| Общие данные | |
|---|---|
| Источник информации | 53-80г с.49 |
| Технические условия на выпуск | ТУ 3-3.47-81 |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 1978 |
| Страна-производитель | Россия |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | - |
| Телефон | () |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | нет |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 1978 |
Производитель / Заявитель
Приборостроительный завод, РОССИЯ, г.Новосибирск
Россия
630049. Тел. 25-45-42
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
| Зарегистрировано поверок | |
| Актуальность информации | 14.12.2025 |
Найти результаты поверки
Поверители
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Микроскопы фотоэлектрические ФЭМ-1Ц поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Другие Микроскопы
8138-81
УМИ-2Ц
Микроскопы унифицированные
Приборостроительный завод им.В.И.Ленина, РОССИЯ, г.Новосибирск
62841-15
SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500M
Микроскопы сканирующие электронные
Компания "SEC Co., Ltd.", Корея
Микроскопы сканирующие электронные SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500M предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.