Микроскопы унифицированные УМИ-2Ц
| Номер в ГРСИ РФ: | 8138-81 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | - |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроскопы унифицированные УМИ-2Ц поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 8138-81 |
| Наименование | Микроскопы унифицированные |
| Модель | УМИ-2Ц |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 1983 |
| Страна-производитель | СССР |
| Примечание | Исключен в 1983 г. |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | - |
| Телефон | () |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | нет |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 1983 |
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
| Зарегистрировано поверок | 171 |
| Найдено поверителей | 22 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 165 (96%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 6 (4%) |
| Актуальность информации | 22.12.2024 |
Поверители
Другие Микроскопы
62841-15
SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500M Микроскопы сканирующие электронные
Компания "SEC Co., Ltd.", Корея
Микроскопы сканирующие электронные SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500M предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
62701-15
Axio Observer.A1m, Axio Observer.D1m, Axio Observer.Z1m, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7 Микроскопы световые инвертированные
Фирма "Carl Zeiss Microscopy GmbH", Германия
Микроскопы световые инвертированные Axio Observer.Alm, Axio Observer.Dlm, Axio Observer.Zlm, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7 (далее по тексту -микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных стру...
62122-15
Verios 460 XНR SEM Микроскоп электронный сканирующий c системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов
Фирма "FEI Company", США
Микроскоп электронный сканирующий Verios 460 XYR SEM с системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микрорельефа, электроннозондо-во...