949-54: Н30-1 Приспособления для внутренних измерений к универсальному измерительному микроскопу - Производители, поставщики и поверители

Приспособления для внутренних измерений к универсальному измерительному микроскопу Н30-1

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 949-54
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: -
Нет данных о поставщике
Приспособления для внутренних измерений к универсальному измерительному микроскопу Н30-1 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 949-54
Наименование Приспособления для внутренних измерений к универсальному измерительному микроскопу
Модель Н30-1
Класс СИ 27.01
Год регистрации 1986
Страна-производитель  СССР 
Примечание Исключен в 1986 г.
Центр сертификации СИ
Наименование центра -
Телефон ()
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата нет
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 171 от 04.06.86 п.03

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки -
Зарегистрировано поверок 148
Найдено поверителей 5
Успешных поверок (СИ пригодно) 145 (98%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 3 (2%)
Актуальность информации 03.11.2024

Поверители

Другие Микроскопы

Микроскопы сканирующие электронные SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500M предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Микроскопы световые инвертированные Axio Observer.Alm, Axio Observer.Dlm, Axio Observer.Zlm, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7 (далее по тексту -микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных стру...
Микроскоп электронный сканирующий Verios 460 XYR SEM с системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микрорельефа, электроннозондо-во...
Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Микроскопы электронные растровые JSM IT300x (модификации JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA) (далее - микроскопы) предназначены для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотел...