Приспособления для внутренних измерений к универсальному измерительному микроскопу Н30-1
| Номер в ГРСИ РФ: | 949-54 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | - |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Приспособления для внутренних измерений к универсальному измерительному микроскопу Н30-1 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 949-54 |
| Наименование | Приспособления для внутренних измерений к универсальному измерительному микроскопу |
| Модель | Н30-1 |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 1986 |
| Страна-производитель | СССР |
| Примечание | Исключен в 1986 г. |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | - |
| Телефон | () |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | нет |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 171 от 04.06.86 п.03 |
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
| Зарегистрировано поверок | 148 |
| Найдено поверителей | 5 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 145 (98%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 3 (2%) |
| Актуальность информации | 17.11.2024 |
Поверители
Другие Микроскопы
62841-15
SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500M Микроскопы сканирующие электронные
Компания "SEC Co., Ltd.", Корея
Микроскопы сканирующие электронные SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500M предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
62701-15
Axio Observer.A1m, Axio Observer.D1m, Axio Observer.Z1m, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7 Микроскопы световые инвертированные
Фирма "Carl Zeiss Microscopy GmbH", Германия
Микроскопы световые инвертированные Axio Observer.Alm, Axio Observer.Dlm, Axio Observer.Zlm, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7 (далее по тексту -микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных стру...
62122-15
Verios 460 XНR SEM Микроскоп электронный сканирующий c системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов
Фирма "FEI Company", США
Микроскоп электронный сканирующий Verios 460 XYR SEM с системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микрорельефа, электроннозондо-во...
61516-15
MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные
Фирма "Carl Zeiss Microscopy Ltd.", Великобритания
Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
60731-15
JSM IT300x (мод. JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA) Микроскопы электронные растровые
Фирма "JEOL Ltd.", Япония
Микроскопы электронные растровые JSM IT300x (модификации JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA) (далее - микроскопы) предназначены для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотел...