Микроскопы
Микроскопы в госреестре
Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении.
48284-11
НаноСкан-3Di
Микроскоп сканирующий зондовый
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", РОССИЯ, г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фу...
48172-11
МИА-Д
Микроскопы интерференционные автоматизированные
ФГУП "ВНИИ оптико-физических измерений" (ВНИИОФИ), РОССИЯ, г.Москва
Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.
48171-11
МИА-1М
Микроскопы интерференционные автоматизированные
ФГУП "ВНИИ оптико-физических измерений" (ВНИИОФИ), РОССИЯ, г.Москва
Для измерения высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.
48091-11
JEM-2100
Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями
Фирма "JEOL Ltd.", ЯПОНИЯ
Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры, а также для анализа локального элементного состава и кристаллической структуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий м...
Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку).
Для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования.
Для измерений размеров частиц в суспензиях на основе минеральных или синтетических масел.
Для измерения топографии поверхности, применяется в научных исследованиях, в нанотехнологии, в лабораториях научно-исследовательских и учебных организаций.
Для измерений координат в прямоугольной системе, высоты элементов деталей, диаметров цилиндров, круглых прутков и винтов. Область применения - лаборатории промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.