Микроскопы
Микроскопы в госреестре
41675-09
НаноСкан-3Д
Микроскопы сканирующие зондовые
Федеральное государственное бюджетное научное учреждение «Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов» (ФГБНУ ТИСНУМ), г. Москва, г. Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением, измерений силы воздействия зонда на поверхность исследуемого образца в отдельных точках, для измерения геометрических характеристик отпечатков...
Для измерения количества и размеров частиц в суспензиях на основе минеральных или синтетических масел в соответствии с ГОСТ ИСО 4407-2006 "Определение загрязненности жидкости методом счета частиц под микроскопом". Область применения: контроль промышл...
Для прецизионного измерения наружных и внутренних линейных размеров и диаметров изделий до 25 мм. Область применения: предприятие ОАО "Сибнефть-ОНПЗ".
40981-09
Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300
Микроскопы электронные просвечивающие
Фирма "FEI Company", НИДЕРЛАНДЫ
Для измерения линейных размеров объектов, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов. Области применения: биология, физика твердого тела, материаловедение, геология и другие отрасли науки и техники.
Для измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах. Область применения - лаборатории предприятий и научно-исследовательских институтов.
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Для измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах. Область применения - лаборатории предприятий и научно-исследовательских институтов.
Для измерений линейных размеров деталей структур, наблюдаемых на изображении, сформированном прошедшими через исследуемый объект электронами, а также анализа микро- и наноструктуры объектов в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, ме...
Для измерений линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, сформированном при сканировании поверхности зондом. Применяется в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и других отраслях науки и техники.
Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а...