Микроскопы в ГРСИ РФ

Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а...

Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с субнано-метровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, могут использоваться при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований.

Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабо...

Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) микро-, нанорельефа поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики...

Для измерения расстояний, размеров гранул и других деталей структуры, наблюдаемых на изображении при анализе микроструктуры металлов и других материалов.

Для измерений диаметров отверстий и шага между их осями микроканальных пластин, а также размеров мер малой длины в микроэлектронике и других отраслях промышленности.

Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...

Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...

Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...

Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...