Микроскопы в ГРСИ РФ

Для измерения расстояний, размеров гранул и других деталей структуры, наблюдаемых на изображении при анализе микроструктуры металлов и других материалов.

Для измерений диаметров отверстий и шага между их осями микроканальных пластин, а также размеров мер малой длины в микроэлектронике и других отраслях промышленности.

Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...

Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...

Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...

Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...

Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...

Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...

Для измерений параметров топографии и локальных геометрических свойств поверхности, наблюдения морфологии с субнанометровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, а также позволяют визуализировать атомную структуру поверхности изу...

Для измерения геометрических параметров: линейных: размеров различных деталей, геометрических параметров микросхем и т.п. в машиностроении, микроэлектронике.