Микроскопы
Микроскопы в ГРСИ РФ
Для измерений линейных и угловых размеров элементов различных деталей в прямоугольной системе координат в измерительных лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.
Для измерения линейных и угловых размеров элементов различных деталей в прямоугольных координатах в измерительных лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.
30156-05
РЭМ-106И Микроскопы электронные растровые с системой энергодисперсионного микроанализа
ОАО "SELMI", Украина, г.Сумы
Для измерений линейных размеров элементов топологии и параметров микрорельефа поверхности различных объектов в твердой фазе и измерений массовой доли элементов в составе объектов методом рентгеновского микроанализа в режимах высокого вакуума и низког...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред, применяют в учебном процессе для изучения основ сканирующей зондовой микроскопии и проведения исследований в области нанотехнологии, микромеханики, физики...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
27305-04
Checkmaster II WH 825/20 Микроскоп
Фирма "Graphische Technik und Handle Heimann GmbH", Германия
Для прецизионного измерения ширины и глубины штрихов на Пермской печатной фабрике Гознака.
Для прецизионного измерения ширины и глубины штрихов, наносимых на специальных пластиковых карточках на Пермской печатной фабрике Гознака.
Для прецизионного измерения наружных и внутренних линейных размеров и диаметров изделий в продольном и поперечном направлениях до 50 мм.
15684-03
XL, "Quanta" Микроскопы электронные сканирующие
Фирма "FEI Company/ Philips Electron Optics", Нидерланды
Для измерения линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов в химии, биологии, металлургии, физике твердого тела, материаловедении, геологии и других отраслях науки и техники.