Микроскопы в госреестре

Для исследования микроструктуры объектов в условиях заводских лабораторий и научно-исследовательских институтов металлургической, химической, полупроводниковой и других отраслях промышленности.

Для наведения на штрих меры абсолютных измерений штрихования мер, для наведения на несколько штрихов, находящихся в поле зрения в автоматическом режиме, для измерений отклонений при компарировании штрихованных мер длины

Предназначен для измерения линейных и угловых размеров. Применение - измерительные лаборатории и цехи предприятий машиностроения, приборостроения, микроэлектроники, лаборатории институтов

Для измерения отпечатка, образуемого на поверхности различных металлов при определении твердости по методу Бринелля

Для измерения длин и углов в приборо- и машиностроении

Для измерения расстояния между отдельными деталями, например, между штрихами и точками объекта, а также для измерения линейных размеров мелких предметов