Микроскопы
Микроскопы в госреестре
35693-07
ИМЦЛ 150х75(1),Б
Микроскопы инструментальные
Акционерное общество "Новосибирский приборостроительный завод" (АО "НПЗ"), г. Новосибирск-49 (срок свидетельства: 17.05.2027); АО "Швабе - Оборона и Защита", г.Новосибирск (срок свидетельства: 17.05.2022)
Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...
34310-07
ФемтоСкан
Микроскопы сканирующие зондовые
ООО НПП "Центр перспективных технологий", РОССИЯ, г.Москва
Для измерений параметров топографии и локальных геометрических свойств поверхности, наблюдения морфологии с субнанометровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, а также позволяют визуализировать атомную структуру поверхности изу...
33832-07
VMM
Микроскопы измерительные
Фирма "Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co. KG", ГЕРМАНИЯ
Для измерения геометрических параметров: линейных: размеров различных деталей, геометрических параметров микросхем и т.п. в машиностроении, микроэлектронике.
Для измерений линейных и угловых размеров элементов различных деталей в прямоугольной системе координат в измерительных лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.
Для измерения линейных и угловых размеров элементов различных деталей в прямоугольных координатах в измерительных лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.
30156-05
РЭМ-106И
Микроскопы электронные растровые с системой энергодисперсионного микроанализа
ОАО "SELMI", УКРАИНА, г.Сумы
Для измерений линейных размеров элементов топологии и параметров микрорельефа поверхности различных объектов в твердой фазе и измерений массовой доли элементов в составе объектов методом рентгеновского микроанализа в режимах высокого вакуума и низког...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред, применяют в учебном процессе для изучения основ сканирующей зондовой микроскопии и проведения исследований в области нанотехнологии, микромеханики, физики...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
27305-04
Checkmaster II WH 825/20
Микроскоп
Фирма "Graphische Technik und Handle Heimann GmbH", ГЕРМАНИЯ
Для прецизионного измерения ширины и глубины штрихов на Пермской печатной фабрике Гознака.