Комплексы управляющие дифрактометрические КУД-2-01, КУД-2-02
| Номер в ГРСИ РФ: | 11403-88 |
|---|---|
| Категория: | Дифрактометры |
| Производитель / заявитель: | Завод "Красный Октябрь", Украина, г.Одесса |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Комплексы управляющие дифрактометрические КУД-2-01, КУД-2-02 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 11403-88 |
| Наименование | Комплексы управляющие дифрактометрические |
| Модель | КУД-2-01, КУД-2-02 |
| Класс СИ | 34.01.05 |
| Год регистрации | 1998 |
| Страна-производитель | Украина |
| Примечание | Исключен в 1998 г. |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | - |
| Телефон | () |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | нет |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 06 от 21.04.98 п.75 |
Производитель / Заявитель
Завод "Красный Октябрь", Украина, г.Одесса
Украина
270046, 2-й Водопроводный пер., 5. Тел.22-39-87
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
| Актуальность информации | 03.11.2024 |
Поверители
Другие Дифрактометры
15687-96
PW 1800, X-PERT APD, X-PERT MPD, X-PERT MRD Дифрактометры
Фирма "Philips Analytical X-Ray B.V.", Нидерланды
Для измерения параметров кристаллических структур образцов в зависимости от внешних условий (механических напряжений) посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей по положениям максимумов интенсивности дифракционной картины, для применен...
Для определения изменения параметров кристаллических структур образцов в зависимости от внешних условий (механических напряжений) посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей. Область применения - машиностроение, металлургическая, горнод...
Для исследования кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий, промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определяют качественный и...
Для исследования кристаллической структуры материалов в условиях заводских лабораторий, промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов, позволяют проводить рентгеноструктурный анализ кристаллических порошков, определять качественный и...