64204-16: LEXT OLS 4100 Микроскоп конфокальный лазерный - Производители, поставщики и поверители

Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100

Номер в ГРСИ РФ: 64204-16
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Компания "Olympus NDT, Inc.", США
Скачать
64204-16: Описание типа СИ Скачать 122.2 КБ
64204-16: Методика поверки Скачать 541.2 КБ
Нет данных о поставщике
Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров в нано- и микрометровом диапазонах и анализа поверхностей объектов.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 64204-16
Наименование Микроскоп конфокальный лазерный
Модель LEXT OLS 4100
Срок свидетельства (Или заводской номер) зав.№ OLK41137
Производитель / Заявитель

Фирма "OLYMPUS Corporation", Япония

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 4
Найдено поверителей 1
Успешных поверок (СИ пригодно) 4 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

64204-16: Описание типа СИ Скачать 122.2 КБ
64204-16: Методика поверки Скачать 541.2 КБ

Описание типа

Назначение

Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров в нано- и микрометровом диапазонах и анализа поверхностей объектов.

Описание

Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100 относится к классу бесконтактных оптических приборов, принцип действия которых основан на смещении конфокальной плоскости освещения.

Метод конфокальной микроскопии основан на размещении в плоскости измерения апертуры, дающей возможность получения максимального контраста изображения при нахождении измеряемого участка поверхности в фокусе. Метод позволяет измерять поверхности с неровностями до 0,5 мм (в данном устройстве изображение программно сшивается после проведения замеров в заданном диапазоне высот).

Микроскоп состоит из блока осветителя с источниками света (полупроводниковый лазер и светодиод), конструктивно выполненного в виде моноблока, входящего в состав измерительной головки, расположенной на колонне с возможностью перемещения по вертикали. Колонна установлена на металлическом основании, оснащенном антивибрационными подушками, и расположенном на металлической раме. Также в измерительной головке располагается оптическая система (набор диафрагм, фильтров, делитель светового пучка, объективы, определяющие поле зрения (являются сменными)), пьезопривод, цифровая камера и фотоприемник. На основании установлен автоматический предметный столик. В состав микроскопа входит компьютер и контроллер с интерфейсными платами для обработки видеосигнала, управления пьезоприводом, приемом-передачей прочих управляющих сигналов, а также приемом сигналов о результатах измерений.

Измерения проводятся в трехмерной системе координат. При вертикальном сканировании все точки поверхности поочередно проходят через фокус. По последовательности полученных картин фотоприемник фиксирует изменения интенсивности света в каждой точке в зависимости от расстояния.

Режимы работы микроскопа устанавливаются пользователем с помощью органов управления или программного обеспечения (далее - ПО) управляющей ПЭВМ. Органы управления и подстыковочные разъемы расположены на задней панели.

Место нанесения знака поверки

Рисунок 1 - Общий вид микроскопа LEXT OLS 4100

Места расположения пломб

Рисунок 2 - Места расположения пломб

Программное обеспечение

Управление микроскопом осуществляется с помощью встроенного контроллера и внешней ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО).

Программное обеспечение вычисляет положение максимума интенсивности для каждой точки матрицы, после чего восстанавливается форма поверхности, основанная на регистрации максимума интенсивности при перемещении объектива по вертикали.

Специализированное программное обеспечение служит для управления механическими частями микроскопа, для непосредственного измерения, для обработки полученных результатов, построения трехмерных изображений рельефа поверхности, выделения отдельных профилей поверхности в заданном направлении и гистограммы распределения пиков по высоте, а также позволяет рассчитывать параметры шероховатости.

Уровень защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений - «высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

Идентификационные данные программного обеспечения представлены в таблице 1.

Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

OLS4100

Номер версии (идентификационный номер) ПО

Версия 3.1.5

Цифровой идентификатор ПО

2е138c12a2d305402d5b51c4ad73495b6826 67f53b234a2147е61433418е37a2

Технические характеристики

Таблица 2

Наименование характеристики

Значение характеристики

Диапазон измерений линейных размеров (ось Z), мкм

от 0,5 до 500

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров (ось Z), мкм

(где L - измеряемая длинна, мкм)

±(0,1 + — ) 20

Диапазон измерений линейных размеров в плоскости XY, мкм, для объектива:

20х

50х

100х

от 80 до 600

от 30 до 250

от 15 до 120

Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров в плоскости XY, %

±5

Величина хода устройства фокусировки по оси Z, мм

100

Г абаритные размеры основного блока микроскопа (ширинахвысотахглубина), мм, не более

290х480х390

Масса в транспортировочной упаковке, кг, не более

130

Рабочий диапазон температуры окружающей среды, °С

20±3

Относительная влажность воздуха, %

50±10

Диапазон атмосферного давления, кПа

от 97 до 105

Напряжение питания от сети переменного тока частотой (50±1) Гц, В

220±22

Потребляемая мощность, В • А, не более

2420

Знак утверждения типа

наносится в виде наклейки на прибор и титульный лист технической документации фирмы-изготовителя типографским способом.

Комплектность

В комплект поставки входят: микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100, руководство по эксплуатации, методика поверки.

Поверка

осуществляется по документу МП 64204-16 «Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100. Методика поверки», утвержденному АО «НИЦПВ» 18 февраля 2016 г.

Основные средства поверки: мера ширины и периода специальная МШПС-2.0К (регистрационный №33598-06), набор мер длины концевых плоскопараллельных (регистрационный №1843-64), объект-микрометр ОМ-О (регистрационный №28962-05).

Сведения о методах измерений

Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100. Руководство по эксплуатации.

Нормативные документы

1 ГОСТ Р 8.763-2011 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне от 1-10-9 до 50 м и длин волн в диапазоне от 0,2 до 50 мкм

2 Техническая документация фирмы-изготовителя

Другие Микроскопы

64047-16
SOLVER NEXT, TITANIUM Микроскопы сканирующие зондовые
ООО "Научно-техническая компания" (НТК), г.Химки
Микроскопы сканирующие зондовые SOLVER NEXT, TITANIUM (далее C3M) предназначены для измерений геометрических параметров микрорельефа поверхности твёрдых тел.
Микроскопы видеоизмерительные серии Venture модификации 2510, 3030, 2510-CNC, 3030-CNC и серии Venture Plus модификации VP-6460, VP-6490, VP-101040, VP-101540 (далее -микроскопы) предназначены для измерений бесконтактным и контактным методом двухмерн...
66097-16
Nicolet iN10 и Nicolet iN10MX ИК-фурье микроскопы
Фирма "Thermo Fisher Scientific", США
ИК-фурье микроскопы моделей Nicolet iN10 и Nicolet iN10MX (далее по тексту -приборы) предназначены для измерения содержания различных органических и неорганических веществ в твердых, жидких и газообразных образцах, продуктах питания, почвах, волокнах...
67005-17
EVO 18 Микроскопы сканирующие электронные
Фирма "Carl Zeiss Microscopy Ltd.", Великобритания
Микроскопы сканирующие электронные EVO 18 (далее по тексту - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Микроскоп электронный растровый Nova NanoSEM 450, с системами для энергодисперсионного микроанализа, микроанализа с волновой дисперсией и системой анализа дифракции обратно рассеянных электронов, предназначен для измерений линейных размеров элементов...