35809-07: Микроскоп с измерительной насадкой - Производители, поставщики и поверители

Микроскоп с измерительной насадкой

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 35809-07
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: ЗАО "Экран ФЭП", г.Новосибирск
Скачать
35809-07: Описание типа СИ Скачать 141.9 КБ
Нет данных о поставщике
Микроскоп с измерительной насадкой поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерений диаметров отверстий и шага между их осями микроканальных пластин, а также размеров мер малой длины в микроэлектронике и других отраслях промышленности.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 35809-07
Наименование Микроскоп с измерительной насадкой
Технические условия на выпуск тех.документация ЗАО
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2007
Страна-производитель  Россия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ СНИИМ
Адрес центра 630004, г.Новосибирск, пр.Димитрова, 4
Руководитель центра Черепанов Виктор Яковлевич
Телефон (8*383*2) 10-08-14
Факс 10-13-60
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 29122
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола 10 от 13.09.07 п.76
Производитель / Заявитель

ЗАО "Экран ФЭП", г.Новосибирск

 Россия 

630047, ул.Даргомыжского, 8а, почт.адрес: 630060, ул.Зеленая горка, д.1, а/я 270, тел. (383) 332-44-40, 332-44-47, факс 332-30-30, E-mail: еkгапlа@mаil.ru

Поверка

Методика поверки / информация о поверке КФСЕ443100 МП
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 4
Найдено поверителей 2
Успешных поверок (СИ пригодно) 4 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 03.11.2024

Поверители

Скачать

35809-07: Описание типа СИ Скачать 141.9 КБ

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения расстояний, размеров гранул и других деталей структуры, наблюдаемых на изображении при анализе микроструктуры металлов и других материалов.
Default ALL-Pribors Device Photo
Сняты без замены. Письмо Укр.ЦСМ 7-13/29 ДСП от 20.01.86
Default ALL-Pribors Device Photo
Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) микро-, нанорельефа поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабо...