Микроскоп с измерительной насадкой
| Номер в ГРСИ РФ: | 35809-07 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | ЗАО "Экран ФЭП", г.Новосибирск |
Скачать
| 35809-07: Описание типа СИ | Скачать | 141.9 КБ |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроскоп с измерительной насадкой поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для измерений диаметров отверстий и шага между их осями микроканальных пластин, а также размеров мер малой длины в микроэлектронике и других отраслях промышленности.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 35809-07 |
| Наименование | Микроскоп с измерительной насадкой |
| Технические условия на выпуск | тех.документация ЗАО |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2007 |
| Страна-производитель | Россия |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ СНИИМ |
| Адрес центра | 630004, г.Новосибирск, пр.Димитрова, 4 |
| Руководитель центра | Черепанов Виктор Яковлевич |
| Телефон | (8*383*2) 10-08-14 |
| Факс | 10-13-60 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 29122 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | 10 от 13.09.07 п.76 |
Производитель / Заявитель
ЗАО "Экран ФЭП", г.Новосибирск
Россия
630047, ул.Даргомыжского, 8а, почт.адрес: 630060, ул.Зеленая горка, д.1, а/я 270, тел. (383) 332-44-40, 332-44-47, факс 332-30-30, E-mail: еkгапlа@mаil.ru
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | КФСЕ443100 МП |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Зарегистрировано поверок | 4 |
| Найдено поверителей | 2 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 4 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
| Актуальность информации | 17.11.2024 |
Поверители
Скачать
| 35809-07: Описание типа СИ | Скачать | 141.9 КБ |
Другие Микроскопы
35858-07
Leica DM IRM Микроскоп исследовательский для тестирования материалов
Фирма "Leica Microsystems Wetzlar GmbH", Германия
Для измерения расстояний, размеров гранул и других деталей структуры, наблюдаемых на изображении при анализе микроструктуры металлов и других материалов.
Сняты без замены. Письмо Укр.ЦСМ 7-13/29 ДСП от 20.01.86
Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) микро-, нанорельефа поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики...
Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабо...