Микроскоп исследовательский универсальный Olympus BX51

Для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов, в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.

Скачать

45518-10: Описание типа СИ Скачать 276.7 КБ

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 45518-10
Наименование Микроскоп исследовательский универсальный
Модель Olympus BX51
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2010
Методика поверки / информация о поверке ТГУ44.3101 МП
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 2 года
Страна-производитель  Япония 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ СНИИМ
Адрес центра 630004, г.Новосибирск, пр.Димитрова, 4
Руководитель центра Черепанов Виктор Яковлевич
Телефон (8*383*2) 10-08-14
Факс 10-13-60
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 41140
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола 03д3 от 29.07.10 п.103
Производитель / Заявитель

Фирма "OLYMPUS Co.", Япония

 Япония 

Shinjuku Monolith, 3-1, Nishi Shinjuku 2-chome, Shinjuku-ku, Tokyo, Japan

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
45559-10
STM6-LM-F35-2 Микроскоп измерительный
Фирма "OLYMPUS Co.", Япония
Для измерений координат в прямоугольной системе, высоты элементов деталей, диаметров цилиндров, круглых прутков и винтов. Область применения - лаборатории промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.
Default ALL-Pribors Device Photo
45324-10
Libra120 Микроскоп электронный просвечивающий
Фирма "Carl Zeiss, Inc.", Германия
Для измерения геометрических расстояний и размеров элементов тонкой субмикронной структуры твердотельных материалов. Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, металлургии, а так же в лаборат...
Default ALL-Pribors Device Photo
45266-10
SUPRA-25 Микроскоп растровый электронный
Фирма "Carl Zeiss", Германия
Для проведения измерений линейных размеров топологических элементов, толщин и глубин залегания технологических слоев больших и сверхбольших интегральных схем и параметров микрорельефа поверхности различных объектов в твердой фазе методом растровой эл...
Default ALL-Pribors Device Photo
45021-10
Innova Микроскоп атомно-силовой
Фирма "Veeco Instruments Inc.", США
Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности с субнанометровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах. Область применения - в лаборатории Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и про...