45518-10: Olympus BX51 Микроскоп исследовательский универсальный - Производители, поставщики и поверители

Микроскоп исследовательский универсальный Olympus BX51

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 45518-10
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Компания "Olympus NDT, Inc.", США
Скачать
45518-10: Описание типа СИ Скачать 276.7 КБ
Нет данных о поставщике
Микроскоп исследовательский универсальный Olympus BX51 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов, в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 45518-10
Наименование Микроскоп исследовательский универсальный
Модель Olympus BX51
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2010
Страна-производитель  Япония 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ СНИИМ
Адрес центра 630004, г.Новосибирск, пр.Димитрова, 4
Руководитель центра Черепанов Виктор Яковлевич
Телефон (8*383*2) 10-08-14
Факс 10-13-60
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 41140
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола 03д3 от 29.07.10 п.103
Производитель / Заявитель

Фирма "OLYMPUS Co.", Япония

 Япония 

Shinjuku Monolith, 3-1, Nishi Shinjuku 2-chome, Shinjuku-ku, Tokyo, Japan

Поверка

Методика поверки / информация о поверке ТГУ44.3101 МП
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 2 года
Зарегистрировано поверок 7
Найдено поверителей 3
Успешных поверок (СИ пригодно) 7 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

45518-10: Описание типа СИ Скачать 276.7 КБ

Описание типа

Назначение

Микроскоп исследовательский универсальный Olympus ВХ51 (далее - Микроскоп) предназначен для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов, в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.

Описание

Принцип работы Микроскопа основан на бесконтактном методе измерений поперечного размера изображения объекта контроля.

Микроскоп представляет собой модульную конструкцию, позволяющую скомбинировать модификацию, необходимую для решения конкретных задач. Основание Микроскопа Y- образной формы, с виброзащитными опорами.

Метод обзора - светлое поле (BF), темное поле (DF), поляризованный свет (PL), дифференциально-интерференционный контраст (DIC), флуоресценция (FL).

Технические характеристики

Диапазон измерений, мкм

(2-1000)

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений, мкм,

в диапазоне:

- от 2 до 100 мкм

±0,2

- от 100 до 200 мкм

±1,6

- от 200 до 500 мкм

±2,4

- от 500 до 1000 мкм

±3,2

Предел среднего квадратического отклонения, мкм, в диапазоне:

- от 2 до 100 мкм

0,06

- от 100 до 200 мкм

0,2

- от 200 до 500 мкм

1,2

- от 500 до 1000 мкм

1,4

Увеличение объективов, крат

2х, 10х, 20х, 50х, 100

Диапазон увеличений Микроскопа, крат

(50- 1000)

Электропитание Микроскопа осуществляется от сети

переменного тока:

- напряжением, В

220*§

-частотой, Гц

(50±1)

всего листов 3

-силой тока, А

Габаритные размеры, мм

Масса, кг

Рабочие условия эксплуатации - закрытые отапливаемые помещения по гр. В1 ГОСТ Р 52931 со следующим уточнением:

0,8

587x317,5x471

35

- температура окружающего воздуха, °C

- относительная влажность, %

- атмосферное давление, кПа

Средний срок службы, не менее, лет

(20 ± 5) (60 (100^5) 6

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа средств измерений нанесён на специальную табличку на задней панели Микроскопа методом штемпелевания и на титульный лист руководства по эксплуатации - типографским способом.

Комплектность

Обозначение

Наименование

Количество

Заводской номер

Примечание

Микроскоп

1

7G21084

ВХ51

Столик предметный

2

U-SVR, U-SP

Г оловка револьверная объективов

1

На 5 объективов

Источник света

4

120 Вт - металл-галидная, 100 Вт - Hg, 75Вт - Хе лампы

Тубус окулярный

1

Окуляры: U-BI30-2, U-SWTR-3

Блок питания встроенный

1

12 В, 100 Вт

Диафрагма

2

Полевая и апертурная

Порт вывода

1

Фронтальный порт

Насадка фотомикрографическая измерительная

1

цифровая камера DP72

Персональный компьютер (ПК)

1

мин. требования: процессор Intel Pentium 500 МГц, HDD 10 Гб

ТГУ44.3101РЭ

Руководство по эксплуатации

1

На русском языке

ТГУ44.3101МП

Методика поверки

1

Поверка

Поверку Микроскопа осуществляют в соответствии с документом ТГУ44.3101 МП «Микроскопы исследовательские универсальные Olympus ВХ51. Методика поверки», утверждённым ФГУП «СНИИМ» в феврале 2010 г.

В перечень основного поверочного оборудования входит объект-микрометр эталонный Olympus N 2031 (ГОСРЕЕСТР СИ N 41515)

Межповерочный интервал - 2 года.

Нормативные документы

МИ 2060-90 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне 1х10'6^50 м

МИ 2270-93 ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в диапазоне 0,1-40,0 мкм Документация фирмы-изготовителя

Заключение

Тип «Микроскоп исследовательский универсальный Olympus ВХ51», заводской номер 7G21084 утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен в эксплуатации согласно государственным поверочным схемам.

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
45559-10
STM6-LM-F35-2 Микроскоп измерительный
Фирма "OLYMPUS Co.", Япония
Для измерений координат в прямоугольной системе, высоты элементов деталей, диаметров цилиндров, круглых прутков и винтов. Область применения - лаборатории промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения топографии поверхности, применяется в научных исследованиях, в нанотехнологии, в лабораториях научно-исследовательских и учебных организаций.
Default ALL-Pribors Device Photo
46917-11
Motic B1-223ASC Микроскоп оптический
Компания "BBT" Sp.z.o.o., Польша
Для измерений размеров частиц в суспензиях на основе минеральных или синтетических масел.
46918-11
СММ-2000 Микроскопы сканирующие зондовые
ОАО "Завод Протон-МИЭТ", г.Москва
Для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования.