70123-18: CW-2515N Микроскоп измерительный - Производители, поставщики и поверители

Микроскоп измерительный CW-2515N

Номер в ГРСИ РФ: 70123-18
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Chien Wei Precise Technology Co., Ltd.", Тайвань
Скачать
70123-18: Описание типа СИ Скачать 73.1 КБ
70123-18: Методика поверки 437-139-2017МП Скачать 2.1 MБ
Нет данных о поставщике
Микроскоп измерительный CW-2515N поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Микроскоп измерительный модель CW-2515N (далее, микроскоп) предназначен для измерения геометрических размеров и относительного расположения поверхностей деталей.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 70123-18
Наименование Микроскоп измерительный
Модель CW-2515N
Страна-производитель ТАЙВАНЬ (КИТАЙ)
Срок свидетельства (Или заводской номер) зав.№ I06447CN
Производитель / Заявитель

Фирма "Chien Wei Precise Technology Co., Ltd.", Тайвань

ТАЙВАНЬ (КИТАЙ)

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Найдено поверителей 1
Актуальность информации 14.04.2024

Поверители

Скачать

70123-18: Описание типа СИ Скачать 73.1 КБ
70123-18: Методика поверки 437-139-2017МП Скачать 2.1 MБ

Описание типа

Назначение

Микроскоп измерительный модель CW-2515N (далее, микроскоп) предназначен для измерения геометрических размеров и относительного расположения поверхностей деталей.

Описание

Принцип действия микроскопов основан на считывании с измерительных шкал значений перемещения подвижного предметного стола по осям X, Y, соответствующих линейным размерам измеряемого объекта.

Конструктивно микроскопы состоят из гранитного основания, подвижного предметного стола с измерительными шкалами, вертикальной колонки с оптической системой, программного блока цифровой индикации.

Конструкция микроскопов предусматривает грубое и точное перемещение подвижного предметного стола. Грубое перемещение осуществляется вручную. Точное перемещение осуществляется с помощью вращающихся рукояток, соответствующих осям X и Y. Для предотвращения грубого перемещения подвижный стол снабжен механическими фиксаторами для каждой оси.

Фокусировка оптической системы на измеряемом объекте осуществляется вручную с помощью вращающейся рукоятки на вертикальной колонке.

Микроскоп может работать в режиме отраженного и проходящего света. Осветитель для работы в режиме проходящего света расположен под подвижным предметным столом. Осветители для работы в отраженном свете расположены по окружности оптической системы.

В комплект поставки микроскопов входит калибровочный образец - стеклянная пластина с нанесенными на ней окружностями с известными значениями диаметров.

Рисунок 1 - Внешний вид микроскопа

Пломбирование микроскопа измерительного модели CW-2515N не предусмотрено.

Программное обеспечение

Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения (ПО)

Идентификационные данные

Значение

Идентификационное наименование ПО

QUADRA CHEK-200

Номер версии ПО

V2.19.5

Уровень защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «СРЕДНИЙ» по Р 50.2.077-2014 для встроенного программного обеспечения.

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические характеристики

Наименование характеристики

Значение характеристики

Диапазон измерений линейных размеров, мм: - по оси X - по оси Y

От 0 до 250

От 0 до 150

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров, мкм

± (3+L/200), где L - измеряемая длина в мм

Дискретность отсчета, мкм

1

Таблица 3 - Технические характеристики

Наименование характеристики

Значение характеристики

Максимальная высота измеряемой детали, мм, не более

150

Максимальный вес измеряемой детали, кг, не более

10

Габаритные размеры, мм, не более: - длина

750

- ширина

830

- высота

1250

Масса, кг, не более

95

Средний срок службы, лет, не менее

5

Условия эксплуатации:

- температура окружающего воздуха, °С

от +18 до +22

- изменение температуры воздуха в течение 1 часа работы, °С, не более

±0,25

- относительная влажность воздуха, %, не более

80

- вибрация с амплитудой, мкм, не более

2,0

Знак утверждения типа

наносится на наружную сторону основания микроскопа методом наклейки.

Комплектность

Таблица 4 - Комплектность средств измерений

Наименование

Обозначение

Количество

Микроскоп измерительный

CW-2515N

1 шт.

Калибровочный образец

1 шт.

Упаковочный чехол

1 шт.

Блок цифровой индикации

ND-1200

1 шт.

Руководство по эксплуатации

1 экз.

Методика поверки

437-139-2017МП

1 экз.

Поверка

осуществляется по документу 437-139-2017МП «Микроскоп измерительный модель CW-2515N.

Методика поверки», утвержденному ФБУ «Тест-С.-Петербург» 02.10.2017 г.

Основное средство поверки:

- мера длины штриховая 3 разряда по ГОСТ Р 8.763-2011 «ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне 1-10’9 ^ 50 м и длин волн в диапазоне 0,2 ^ 50 мкм».

Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемых СИ с требуемой точностью.

Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.

Сведения о методиках (методах) измерений приведены в эксплуатационном документе.

Нормативные документы

ГОСТ Р 8.763-2011 «ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне 1х10-9 ^ 50 м и длин волн в диапазоне 0,2 ^ 50 мкм»

Другие Микроскопы

71332-18
CW-2020N-PC Микроскоп измерительный
Фирма "Chien Wei Precise Technology Co., Ltd.", Тайвань
Микроскоп измерительный модель CW-2020N-PC(далее, микроскоп) предназначен для измерения геометрических размеров и относительного расположения поверхностей деталей.
Микроскопы электронные растровые настольные модификаций EM-30 PLUS, EM-30 AX PLUS (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного морфологического анализа (все модифи...
74241-19
МВ и МВZ Микроскопы видеоизмерительные
ООО "Профноватор", г.Челябинск
Микроскопы видеоизмерительные серий МВ и МВ2 (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных и контактных измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах.
Микроскопы сканирующие электронные серий GeminiSEM, Crossbeam, EVO, SIGMA (далее по тексту - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Микроскопы электронные растровые настольные модификаций Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX, Phenom Pharos, Phenom XL (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, количественного...