Госреестр средств измерений РФ (Страница 1537)

Государственный реестр средств измерений (Страница 1537)

Всего записей: 106466
Default ALL-Pribors Device Photo
Система автоматизированная информационно-измерительная коммерческого учета электроэнергии (АИИС КУЭ) ЗАО «БЭЛС» (ИИК № 151, 152) (далее по тексту - АИИС КУЭ) предназначена для измерений активной и реактивной электроэнергии, сбора, обработки, хранения...
Дозиметры для контроля характеристик рентгеновских аппаратов RaySafe X2 (далее -дозиметры RaySafe X2) предназначены для измерений: кермы в воздухе; мощности кермы в воздухе; произведения кермы в воздухе на длину (для компьютерной томографии, КТ); ано...
Default ALL-Pribors Device Photo
Система автоматизированная информационно-измерительная коммерческого учета электроэнергии (АИИС КУЭ) тяговой подстанции «Урванка» Московской ЖД филиала ОАО «Российские железные дороги» в границах Тульской области (далее по тексту - АИИС КУЭ) предназн...
73634-18
Solartron 1254 Анализатор частотных характеристик
Фирма "Solartron Analytical", Великобритания
Анализатор частотных характеристик Solartron 1254 предназначен для измерений напряжения переменного тока, разности фаз.
73633-18
N4000A, N4001A, N4002A Генераторы шума
Компания "Keysight Technologies Malaysia Sdn. Bhd.", Малайзия
Генераторы шума N4000A, N4001A, N4002A (далее по тексту - ГШ) предназначены для воспроизведения шумового сигнала с известным значением спектральной плотности мощности шумового радиоизлучения на выходе.
73632-18
346A, 346B, 346С, 346C opt.K40, 346С opt.K01 Генераторы шума
Компания "Keysight Technologies Malaysia Sdn. Bhd.", Малайзия
Генераторы шума 346A, 346B, 346С, 346C opt.K40, 346С opt.K01 (далее по тексту—ГШ) предназначены для воспроизведения шумового сигнала с известным значением спектральной плотности мощности шумового радиоизлучения на выходе.
73631-18
BA 100 Анализаторы рентгенофлуоресцентные
Фирма "BOWMAN ANALYTICS INC", США
Анализаторы рентгенофлуоресцентные BA 100 (далее - анализаторы) предназначены для измерений толщины покрытия, определения концентрации растворов, составов сплавов.
73630-18
TU5 мод. TU5200 и TU5x00 Анализаторы мутности
Фирма "HACH LANGE GmbH", Германия
Анализаторы мутности TU5 моделей TU5200 и TU5x00 (далее - анализаторы) предназначены для измерений мутности водной среды.
Default ALL-Pribors Device Photo
Система автоматизированная информационно-измерительная коммерческого учета электроэнергии (АИИС КУЭ) АО «ТОСК» ГП (далее по тексту - АИИС КУЭ) предназначена для измерений активной и реактивной электроэнергии и мощности, сбора, обработки, хранения, фо...
Default ALL-Pribors Device Photo
Система автоматизированная информационно-измерительная коммерческого учета электроэнергии (АИИС КУЭ) трансформаторной подстанции «Кица» Октябрьской ЖД филиала ОАО «Российские железные дороги» в границах Мурманской области (далее по тексту - АИИС КУЭ)...
Default ALL-Pribors Device Photo
Система автоматизированная информационно-измерительная коммерческого учета электроэнергии (АИИС КУЭ) тяговой подстанции «Мантурово» Северной ЖД филиала ОАО «Российские железные дороги» в границах Костромской области (далее по тексту -АИИС КУЭ) предна...
Default ALL-Pribors Device Photo
Система автоматизированная информационно-измерительная коммерческого учета электроэнергии (АИИС КУЭ) трансформаторной подстанции «Хибины» Октябрьской ЖД филиала ОАО «Российские железные дороги» в границах Мурманской области (далее по тексту - АИИС КУ...
Стенды измерительные для больших и сверхбольших интегральных схем V93000 Pin Scale 1600/CTH (далее - стенды) предназначены контроля и измерения вольт-амперных параметров сверхбольших интегральных схем (СБИС) на пластине и в корпусе.
Стенды измерительные для больших и сверхбольших интегральных схем V93000 Pin Scale 1600/ATH (далее - стенды) предназначены контроля и измерения вольт-амперных параметров сверхбольших интегральных схем (СБИС) на пластине и в корпусе.
73623-18
FOCUS PX Дефектоскопы ультразвуковые
Компания "Olympus Scientific Solutions Americas Inc.", Канада
Дефектоскопы ультразвуковые FOCUS PX (далее по тексту - дефектоскопы) предназначены для измерений координат залегания дефектов (толщина изделия или глубина залегания дефектов и расстояние от точки ввода до проекции дефекта на поверхность сканирования...