НИЦПВ Классификатор средств измерений по ГЦИ СИ

Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком. Микроскоп может применяться при проведения научных...

Для измерений массы вторичных ионов, возникающих при послойном травлении исследуемого объекта потоком первичных ионов. Прибор применяется для контроля дозы имплантации, измерений глубин р-n переходов, разработки технологических процессов, послойного...

Для измерений параметров сейсмических колебаний, а также колебаний сооружений, конструкций, машин и т.п. Применяются при проведении сейсмологических, геологоразведочных, вибродиагностических работ и исследований.

Для проведения научных и прикладных исследований твердотельных образцов, включая наноструктурированные материалы и нанообъекты. Позволяет проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твёрдотел...

Для измерений: акустико-эмиссионных параметров упругих волн, излучаемых источниками акустической эмиссии в диагностируемых конструкциях, параметров окружающей среды, параметров режимов работы объекта и средств коррозионной защиты, влияющих на поврежд...

Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...

Для измерений линейных размеров деталей структур, наблюдаемых на изображении, сформированном прошедшими через исследуемый объект электронами, а также анализа микро- и наноструктуры объектов в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, ме...

Для измерений линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, сформированном при сканировании поверхности зондом. Применяется в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и других отраслях науки и техники.

Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а...

Для непрерывной долговременной многоканальной регистрации и измерений в реальном времени параметров сигналов акустической эмиссии с одновременным измерением дополнительных параметров, влияющих на повреждаемость инженерных конструкций и других техниче...

Для непрерывной долговременной многоканальной регистрации и измерений в реальном времени параметров сигналов акустической эмиссии с одновременным измерением дополнительных параметров, влияющих на повреждаемость инженерных конструкций и других техниче...

Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабо...

Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) микро-, нанорельефа поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики...

Для измерения колебательного смещения или скорости смещения поверхности твердых тел в диапазоне частот 100...200 кГц, для неразрушающего контроля и оценки технического состояния опасных промышленных объектов в составе акустико-эмиссионных измерительн...

Для измерения параметров сейсмических колебаний, а также колебаний сооружений, конструкций, машин и т.п. при проведении сейсмологических, геологоразведочных, вибродиагностических работ и исследований.